公开(公告)号：CN101718674B

公开(公告)日：2011-11-09

申请号：CN200910218341.5

申请日：2009-12-14

申请人： 昆明理工大学

发明人： 戈振扬 ,  郭洁

IPC分类号： G01N15/10 ,  G06T7/00

摘要： 本发明公开了一种测量散粒物料颗粒形状参数的方法，是一种通过应用数码显微镜和计算机测量散粒物料颗粒形状参数的方法和软件。数码显微镜完成散粒颗粒物料图像采集，计算机完成采集到的图像的处理。该方法精简了测量散粒物料颗粒形状参数的过程，提高了测量的精确度，测量的软件是针对测量散粒物料颗粒形状参数而特殊处理和优化的，便于高效地测量散粒物料颗粒形状相关的各种参数信息。可广泛应用于需测量散粒物料颗粒形状参数的领域。

公开(公告)号：CN101718674A

公开(公告)日：2010-06-02

申请号：CN200910218341.5

申请日：2009-12-14

申请人： 昆明理工大学

发明人： 戈振扬 ,  郭洁

IPC分类号： G01N15/10 ,  G06T7/00

摘要： 本发明公开了一种测量散粒物料颗粒形状参数的方法，是一种通过应用数码显微镜和计算机测量散粒物料颗粒形状参数的方法和软件。数码显微镜完成散粒颗粒物料图像采集，计算机完成采集到的图像的处理。该方法精简了测量散粒物料颗粒形状参数的过程，提高了测量的精确度，测量的软件是针对测量散粒物料颗粒形状参数而特殊处理和优化的，便于高效地测量散粒物料颗粒形状相关的各种参数信息。可广泛应用于需测量散粒物料颗粒形状参数的领域。