发明公开
CN101743619A 半导体器件的分离
失效 - 权利终止
- 专利标题: 半导体器件的分离
- 专利标题(英): Separation of semiconductor devices
-
申请号: CN200880023028.X申请日: 2008-07-03
-
公开(公告)号: CN101743619A公开(公告)日: 2010-06-16
- 发明人: 康学军 , 袁述 , 林卉敏 , 林世鸣
- 申请人: 霆激技术有限公司
- 申请人地址: 新加坡新加坡市
- 专利权人: 霆激技术有限公司
- 当前专利权人: 霆激技术有限公司
- 当前专利权人地址: 新加坡新加坡市
- 代理机构: 深圳中一专利商标事务所
- 代理商 张全文
- 国际申请: PCT/SG2008/000238 2008.07.03
- 国际公布: WO2009/005477 EN 2009.01.08
- 进入国家日期: 2009-12-31
- 主分类号: H01L21/26
- IPC分类号: H01L21/26 ; H01L23/12 ; H01L21/36 ; H01L27/00
摘要:
本发明公开了一种制造半导体器件的方法。该方法包括提供其上设有多个外延层的衬底以及在保持外延层完整的情况下将衬底与外延层分离。这种方式保留了这些外延层的电气、机械和光学特性。
公开/授权文献
- CN101743619B 半导体器件的分离 公开/授权日:2011-12-14
IPC分类: