发明公开

半导体器件的分离
摘要:
本发明公开了一种制造半导体器件的方法。该方法包括提供其上设有多个外延层的衬底以及在保持外延层完整的情况下将衬底与外延层分离。这种方式保留了这些外延层的电气、机械和光学特性。
公开/授权文献
0/0