发明公开
- 专利标题: 一种具有同质缓冲层的c轴倾斜AlN薄膜制备方法
- 专利标题(英): Preparation method of c-axis inclined AlN thin film with homogeneous buffer layer
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申请号: CN201010028942.2申请日: 2010-01-08
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公开(公告)号: CN101775584A公开(公告)日: 2010-07-14
- 发明人: 顾豪爽 , 熊娟 , 吴雯 , 杜鹏飞 , 胡明哲 , 陈侃松
- 申请人: 湖北大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市武昌区学院路11号
- 专利权人: 湖北大学
- 当前专利权人: 湖北大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市武昌区学院路11号
- 代理机构: 武汉金堂专利事务所
- 代理商 丁齐旭
- 主分类号: C23C14/34
- IPC分类号: C23C14/34 ; C23C14/58
摘要:
本发明提供了一种具有同质缓冲层的c轴倾斜AlN薄膜的制备方法,它采用磁控溅射的方法在以Si、Mo、Pt、Au或其组合为衬底上,生成非晶AlN薄膜缓冲层,再以调节衬底与靶材中心偏离角度的方式,生长倾斜角度不同的c轴取向AlN薄膜。本发明能够克服AlN薄膜与Si、GaAs等衬底之间较大的晶格失配以及c轴倾斜角度控制性较差的问题。将该方法生长的AlN薄膜作为压电谐振传感器的压电层时,可减小声波在液体中的能量损耗,有助于提高传感器的品质因数和灵敏度。
IPC分类: