本发明涉及一种利用多缝衍射法测量偏振态的装置及方法，属于光电技术检测技术领域。包括偏振片A、偏振片B、二元光栅、凸透镜和CCD探测器；将偏振片A覆盖二元光栅的一部分，然后沿光路方向依次固定偏振片A、二元光栅、凸透镜、偏振片B和CCD探测器；平行入射光照射在二元光栅上，平行入射光透过二元光栅在CCD探测器成像，形成衍射条纹。本发明易于实际应用，装置简单，能够高精度，对入射单色光无选择性的偏振态测量方法；本发明相对斯托克斯参量法只用到偏振片，且不需要旋转此偏振片，因此在实验上装置简单，且具有高的实验精度；整个实验装置中无波长选择装置，即任何单色光入射均可测量其偏振态；此装置不需校正即可使用。