发明授权
CN101814415B 质量分析装置以及质量分析方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 质量分析装置以及质量分析方法
- 专利标题(英): Mass spectrometer and method of mass spectrometry
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申请号: CN201010163076.8申请日: 2006-03-08
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公开(公告)号: CN101814415B公开(公告)日: 2012-01-11
- 发明人: 桥本雄一郎 , 长谷川英树 , 马场崇 , 和气泉
- 申请人: 株式会社日立制作所
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 株式会社日立制作所
- 当前专利权人: 株式会社日立制作所
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 曲瑞
- 优先权: 2005-315625 2005.10.31 JP
- 分案原申请号: 200680040945X 2006.03.08
- 主分类号: H01J49/42
- IPC分类号: H01J49/42
摘要:
本发明提供一种质量分析装置以及质量分析方法,实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱,在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中,利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分,使囚禁的该离子的一部分向邻接的上述四极杆的中间方向振动,利用引出电场排出所振动的该离子,对所排出的该离子进行检测或导入其他检测处理。
公开/授权文献
- CN101814415A 质量分析装置以及质量分析方法 公开/授权日:2010-08-25