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公开(公告)号：CN105223043B
公开(公告)日：2017-12-19
申请号：CN201510607660.0
申请日：2011-11-08
申请人： 株式会社日立制作所
CPC分类号： H01J49/0422 , G01N1/2211 , G01N1/2214 , G01N33/0057 , G01N2001/028 , H01J49/00 , H01J49/0036 , H01J49/04 , H01J49/0459 , H01J49/0468 , Y02A50/25
摘要： 提供一种微粒捕获装置，具备：吸气部，其吸取从对象剥离的试样；微粒浓缩部，其为圆锥状，对由所述吸气部吸取且从所述圆锥状的大半径侧导入的所述试样进行浓缩，在设置于所述圆锥状的小半径侧的微粒捕获过滤器中捕获所述试样；加热部，其对所述微粒捕获过滤器进行加热；第一泵，其从所述圆锥状的所述大半径部侧吸取气流；第二泵，其间隔所述微粒捕获过滤器地被设置在所述圆锥状的相反侧，从所述圆锥状的所述小半径部侧吸取气流，并且容量比所述第一泵小；排出部，其通过来自所述第二泵的吸取，排出来自所述微粒捕获过滤器捕获到的所述试样的气流；以及控制部，其至少控制所述第一泵的动作。
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公开(公告)号：CN103221812B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201180054607.2
申请日：2011-11-08
申请人： 株式会社日立制作所
CPC分类号： H01J49/0422 , G01N1/2211 , G01N1/2214 , G01N33/0057 , G01N2001/028 , H01J49/00 , H01J49/0036 , H01J49/04 , H01J49/0459 , H01J49/0468 , Y02A50/25
摘要： 提供一种在对微粒连续地回收浓缩的同时，实时地进行分析的方法。利用来自送气部（5）的气流使附着在认证对象（2）上的检测对象物质的气体和/或微粒剥离，吸取剥离的试样，在微粒捕获部（10）中进行浓缩来捕获，在离子源部（21）中生成试样的离子，在质量分析部（23）中进行质量分析。从得到的质量光谱中，判定是否有来自检测对象物质的质量光谱，并将该结果显示在显示部（27）中，由此，对附着在认证对象（2）上的检测对象物质进行连续、实时、迅速且误报低的检测。
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公开(公告)号：CN101188183A
公开(公告)日：2008-05-28
申请号：CN200710085081.X
申请日：2007-02-28
申请人： 株式会社日立制作所
CPC分类号： H01J49/4225 , H01J49/429
摘要： 本发明的质量分析计和质量分析装置由导入用离子源生成的离子并且施加RF电压的四重极棒电极和检测所排出的离子的检测机构构成，其特征在于：在棒轴向形成质量依存的电势，从电势的极小点附近质量选择地向轴向排出离子；此外，通过在插入棒电极之间的插入电极上施加静电电压和RF电压，形成质量选择的电势。根据本发明，实现排出效率高、排出能量低的线性阱。
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公开(公告)号：CN105223043A
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201510607660.0
申请日：2011-11-08
申请人： 株式会社日立制作所
CPC分类号： H01J49/0422 , G01N1/2211 , G01N1/2214 , G01N33/0057 , G01N2001/028 , H01J49/00 , H01J49/0036 , H01J49/04 , H01J49/0459 , H01J49/0468 , Y02A50/25
摘要： 提供一种微粒捕获装置，具备：吸气部，其吸取从对象剥离的试样；微粒浓缩部，其为圆锥状，对由所述吸气部吸取且从所述圆锥状的大半径侧导入的所述试样进行浓缩，在设置于所述圆锥状的小半径侧的微粒捕获过滤器中捕获所述试样；加热部，其对所述微粒捕获过滤器进行加热；第一泵，其从所述圆锥状的所述大半径部侧吸取气流；第二泵，其间隔所述微粒捕获过滤器地被设置在所述圆锥状的相反侧，从所述圆锥状的所述小半径部侧吸取气流，并且容量比所述第一泵小；排出部，其通过来自所述第二泵的吸取，排出来自所述微粒捕获过滤器捕获到的所述试样的气流；以及控制部，其至少控制所述第一泵的动作。
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公开(公告)号：CN101814415A
公开(公告)日：2010-08-25
申请号：CN201010163076.8
申请日：2006-03-08
申请人： 株式会社日立制作所
IPC分类号： H01J49/42
CPC分类号： H01J49/427 , H01J49/067 , H01J49/4225
摘要： 本发明提供一种质量分析装置以及质量分析方法，实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱，在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中，利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分，使囚禁的该离子的一部分向邻接的上述四极杆的中间方向振动，利用引出电场排出所振动的该离子，对所排出的该离子进行检测或导入其他检测处理。
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公开(公告)号：CN101814415B
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201010163076.8
申请日：2006-03-08
申请人： 株式会社日立制作所
IPC分类号： H01J49/42
CPC分类号： H01J49/427 , H01J49/067 , H01J49/4225
摘要： 本发明提供一种质量分析装置以及质量分析方法，实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱，在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中，利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分，使囚禁的该离子的一部分向邻接的上述四极杆的中间方向振动，利用引出电场排出所振动的该离子，对所排出的该离子进行检测或导入其他检测处理。
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公开(公告)号：CN101188183B
公开(公告)日：2010-09-29
申请号：CN200710085081.X
申请日：2007-02-28
申请人： 株式会社日立制作所
CPC分类号： H01J49/4225 , H01J49/429
摘要： 本发明的质量分析计和质量分析装置由导入用离子源生成的离子并且施加RF电压的四重极棒电极和检测所排出的离子的检测机构构成，其特征在于：在棒轴向形成质量依存的电势，从电势的极小点附近质量选择地向轴向排出离子；此外，通过在插入棒电极之间的插入电极上施加静电电压和RF电压，形成质量选择的电势。根据本发明，实现排出效率高、排出能量低的线性阱。
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公开(公告)号：CN101300659A
公开(公告)日：2008-11-05
申请号：CN200680040945.X
申请日：2006-03-08
申请人： 株式会社日立制作所
CPC分类号： H01J49/427 , H01J49/067 , H01J49/4225
摘要： 本发明提供一种质量分析计以及质量分析方法，实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱，在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中，利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分，使囚禁的该离子的一部分向邻接的上述四极杆的中间方向振动，利用引出电场排出所振动的该离子，对所排出的该离子进行检测或导入其他检测处理。
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公开(公告)号：CN110730906A
公开(公告)日：2020-01-24
申请号：CN201880036938.5
申请日：2018-01-16
申请人： 株式会社日立制作所
摘要： 本发明的附着物检查方法为了兼顾高安全水平和高吞吐量的检查，包括：获取被检查者的个人信息的步骤；根据所获取的个人信息，参照存储了个人信息与恐怖风险的关系的数据库，计算该被检查者的恐怖风险的步骤；通过检查装置，回收附着于被检查者、被检查者持有的检查对象物的附着物、附着物的蒸汽，对回收的物质进行离子化并进行分析，将分析的结果与数据库进行对照，检查附着物是否是危险品的步骤，其中，根据每个被检查者来变更检查装置的检查条件和/或判定条件，使检查的真阳性率与计算出的恐怖风险的水平对应地变化。
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公开(公告)号：CN103221812A
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN201180054607.2
申请日：2011-11-08
申请人： 株式会社日立制作所
CPC分类号： H01J49/0422 , G01N1/2211 , G01N1/2214 , G01N33/0057 , G01N2001/028 , H01J49/00 , H01J49/0036 , H01J49/04 , H01J49/0459 , H01J49/0468 , Y02A50/25
摘要： 提供一种在对微粒连续地回收浓缩的同时，实时地进行分析的方法。利用来自送气部（5）的气流使附着在认证对象（2）上的检测对象物质的气体和/或微粒剥离，吸取剥离的试样，在微粒捕获部（10）中进行浓缩来捕获，在离子源部（21）中生成试样的离子，在质量分析部（23）中进行质量分析。从得到的质量光谱中，判定是否有来自检测对象物质的质量光谱，并将该结果显示在显示部（27）中，由此，对附着在认证对象（2）上的检测对象物质进行连续、实时、迅速且误报低的检测。
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