发明公开
- 专利标题: 质量流量控制器的测试系统、测试方法、测试用程序
- 专利标题(英): Mass flow controller verifying system, verifying method and verifying program
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申请号: CN201010135729.1申请日: 2010-03-10
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公开(公告)号: CN101840232A公开(公告)日: 2010-09-22
- 发明人: 安田忠弘 , 山口裕二
- 申请人: 株式会社堀场STEC
- 申请人地址: 日本京都府京都市南区上鸟羽鉾立町11-5
- 专利权人: 株式会社堀场STEC
- 当前专利权人: 株式会社堀场STEC
- 当前专利权人地址: 日本京都府京都市南区上鸟羽鉾立町11-5
- 代理机构: 北京同立钧成知识产权代理有限公司
- 代理商 臧建明
- 优先权: 2009-58780 2009.03.11 JP
- 主分类号: G05B23/00
- IPC分类号: G05B23/00
摘要:
本发明提供一种测试系统,其无须对配管等作任何的设计变更便可低价引入到半导体制造工序等所使用的现存的气体配管系统中,且可以短时间进行基于准确的基准容积的质量流量控制器的测试。测试系统中设置有:测试用气体管线(KL),和支流气体管线(SL)并排设置,且合流于合流后气体管线(ML);基准容积计算部(32),计算出由气体配管系统(GS)的配管自身所规定的基准容积;测试用参数计算部(33),根据在由所要测试的质量流量控制器(1)进行流量控制的期间由压力测定机构(213)测定的测定压力的时间序列数据来计算出测试用参数;以及比较部(33),将根据基准容积所设定的基准参数和测试用参数进行比较。