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发明授权
CN101846553B 一种利用双缝干涉法测量偏振态的方法 有权

  • 专利标题： 一种利用双缝干涉法测量偏振态的方法
  • 专利标题（英）： Method for measuring polarization state by two-slit interference method
  • 申请号： CN201010137833.4
    申请日： 2010-03-30
  • 公开(公告)号： CN101846553B
    公开(公告)日： 2011-09-07
  • 发明人: 白云峰 , 董娟 , 李艳秋
  • 申请人： 北京理工大学
  • 申请人地址： 北京市海淀区中关村南大街5号
  • 专利权人： 北京理工大学
  • 当前专利权人： 北京理工大学
  • 当前专利权人地址： 北京市海淀区中关村南大街5号
  • 代理机构： 北京理工大学专利中心
  • 代理商 张利萍
  • 主分类号： G01J4/00
  • IPC分类号： G01J4/00
一种利用双缝干涉法测量偏振态的方法
摘要：
本发明涉及一种利用双缝干涉法测量偏振态的装置及方法，属于光电检测技术。包括偏振片、挡光板和CCD探测器；其中挡光板上有两条狭缝，除了挡光板上的两条狭缝外，挡光板上的其余部分完全不透光；沿光路方向依次为偏振片、挡光板和CCD探测器。将偏振片覆盖在挡光板的一条狭缝上，然后沿光路方向依次固定挡光板和CCD探测器；平行入射光照射在挡光板上，平行入射光透过挡光板上的两条狭缝在CCD探测器成像，形成干涉条纹。本发明只用到一块偏振片，且不需要旋转此偏振片，装置简单，具有高的实验精度；整个实验装置中无波长选择装置，即可测量任何波长入射光的偏振态。
摘要（英）：

The invention relates to a device and a method for measuring the polarization state by a two-slit interference method, which belong to the photoelectric detection technology. The device comprises a polarizing disc, a light baffle plate and a CCD detector, wherein two slits are arranged on the light baffle plate, other parts on the light baffle plate except the two slits on the light baffle plate are completely in a light-tight mode, and the polarizing disc, the light baffle plate and the CCD detector are sequentially arranged in the light path direction. The polarizing disc is covered on one slit of the light baffle plate, then, the light baffle plate and the CCD detector are sequentially fixed in the light path direction, and parallel incoming rays are irradiated on the light baffle plate and are imaged on the CCD detector through two slits on the light baffle plate for forming interference strips. The invention only uses one polarizing disc, in addition, the polarizing disc is not needed to be rotated, the device is simple, and the invention has high experimental precision. No wave length selecting device exists in the whole experiment device, and the polarization state of the incoming rays at any wave lengths can be measured.

公开/授权文献
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