发明授权
CN101881652B 一种压电晶片振动模态的测试方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种压电晶片振动模态的测试方法
- 专利标题(英): Method for testing vibration mode of piezoelectric chip
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申请号: CN201010199322.5申请日: 2010-06-07
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公开(公告)号: CN101881652B公开(公告)日: 2012-12-19
- 发明人: 曹静 , 蔡桂喜 , 张恩勇 , 周庆祥 , 沙勇 , 董瑞琪 , 刘芳 , 张双楠 , 刘畅
- 申请人: 中国海洋石油总公司 , 中海石油研究中心 , 中国科学院金属研究所
- 申请人地址: 北京市东城区朝阳门北大街25号
- 专利权人: 中国海洋石油总公司,中海石油研究中心,中国科学院金属研究所
- 当前专利权人: 中国海洋石油总公司,中海油研究总院,中国科学院金属研究所
- 当前专利权人地址: 北京市东城区朝阳门北大街25号
- 代理机构: 北京纪凯知识产权代理有限公司
- 代理商 徐宁; 关畅
- 主分类号: G01H17/00
- IPC分类号: G01H17/00 ; G01H9/00
摘要:
本发明涉及一种压电晶片振动模态的测试方法,其包括以下步骤:1)设置一用于对压电晶片进行测试的装置;2)调节函数发生器的频率f对压电晶片进行电压恒定的连续正弦波的激励,使压电晶片产生振动;3)选取压电晶片的某一侧面,用红外热像仪对压电晶片进行连续拍摄,将拍摄到的红外图像传送给计算机;4)通过计算机观测压电晶片振动情况的红外图像,选取在不同激励频率f激励下,压电晶片同一时刻后的最高温度T0,画出T0-f关系曲线,其中每个温度峰值对应一个振动模态,其所对应的频率便是谐振频率;5)选用步骤4)中得到谐振频率,再次激励压电晶片,拍摄压电晶片不同侧面的红外图像并加以综合,观测压电晶片的温度变化,进一步测得其各个谐振模态的分布形态。
公开/授权文献
- CN101881652A 一种压电晶片振动模态的测试方法 公开/授权日:2010-11-10