发明公开
CN101893563A 变曝光时间成像相移测量相位的方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 变曝光时间成像相移测量相位的方法
- 专利标题(英): Phase measurement method of variable exposure time imaging phase shift
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申请号: CN201010152556.4申请日: 2010-04-19
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公开(公告)号: CN101893563A公开(公告)日: 2010-11-24
- 发明人: 张玮 , 余兴龙 , 邓焱 , 罗昭锋
- 申请人: 清华大学
- 申请人地址: 北京市100084-82信箱
- 专利权人: 清华大学
- 当前专利权人: 清华大学
- 当前专利权人地址: 北京市100084-82信箱
- 代理机构: 北京众合诚成知识产权代理有限公司
- 代理商 朱琨
- 主分类号: G01N21/45
- IPC分类号: G01N21/45 ; H04N5/232
摘要:
变曝光时间成像相移测量相位的方法,属于光学相位测量技术领域。其特征在于,在时间相位调制表面等离子体共振SPR成像检测系统内的计算机中建立一个基于变曝光时间成像相移的图像采集软件,设置包括各次不同的曝光时间、曝光开始和结束的参数在内的曝光时间参数,并通过一个预置在CCD相机内的FPGA去控制相移测量周期、帧同步周期、电光晶体同步周期以及包括曝光开始、结束时间在内的曝光信号周期以驱动CCD驱动电路使CCD芯片逐帧地摄取图像,从而实现通过降低每次相移产生的干涉图中的光强测量误差的标准差来降低起偏器输出的p光的相位误差的标准差。本发明具有提高检测相位误差精度的优点。
公开/授权文献
- CN101893563B 变曝光时间成像相移测量相位的方法 公开/授权日:2013-04-03