发明授权
- 专利标题: 一种深硅刻蚀方法
- 专利标题(英): Deep silicon etching method
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申请号: CN200910089819.9申请日: 2009-07-24
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公开(公告)号: CN101962773B公开(公告)日: 2012-12-26
- 发明人: 周洋
- 申请人: 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
- 申请人地址: 北京市朝阳区酒仙桥东路一号
- 专利权人: 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
- 当前专利权人: 北京北方华创微电子装备有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区酒仙桥东路一号
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 逯长明; 王宝筠
- 主分类号: H01L21/306
- IPC分类号: H01L21/306
摘要:
本发明提供一种深硅刻蚀方法,首先刻蚀未被光阻层覆盖的硅片表面,以形成刻蚀面和基本垂直于所述刻蚀面的侧壁,还包括以下步骤:沉积步骤:进行各向同性沉积,以在刻蚀面、侧壁和所述光阻层的表面覆盖阻挡层;第一刻蚀步骤:进行各向异性刻蚀,以去除所述刻蚀面上覆盖的阻挡层而使所述刻蚀面暴露,而所述光阻层被其上覆盖的阻挡层保护而不被刻蚀;第二刻蚀步骤:进行各向同性刻蚀,以刻蚀所述暴露的刻蚀面,所述侧壁被其上覆盖的阻挡层保护而不被刻蚀,而所述光阻层在该各向同性刻蚀中不受损伤;循环重复所述沉积步骤、第一刻蚀步骤和第二刻蚀步骤直至达到预定的刻蚀深度。所述方法不需要使用低频脉冲电源等复杂的设备,有利于设备的维护和降低设备成本。
公开/授权文献
- CN101962773A 一种深硅刻蚀方法 公开/授权日:2011-02-02
IPC分类: