一种基于DW8051核的SOC芯片的可重用验证装置和验证方法
摘要:
一种基于DW8051核的SOC芯片的可重用验证装置和验证方法,属于集成电路技术领域。装置包括PC上位机、现场可编程门阵列及外围电路,现场可编程门阵列和外围电路都与PC上位机连接;现场可编程门阵列用于模拟SOC芯片逻辑模型,SOC芯片逻辑模型包括存储器选择器、内部ROM存储器、ISP控制器、外部接口控制器、时钟复位模块和DW8051核共6个软件模块;SOC芯片逻辑模型由硬件描述语言编写的代码经过编译后下载到现场可编程门阵列实现;外围电路包括扩展的外部非易失性ROM模块、易失性SRAM模块、串行通讯口模块和SPI接口模块,JTAG模块。本发明在软件支持下,能够完成基于DW8051核的SOC芯片的验证,具有一定的通用性,灵活性,可重用性。
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