- 专利标题: 探针引导件、探针板及使用它的半导体装置的试验方法
- 专利标题(英): Probe guiding member, probe plate and test method of semiconductor device using the guiding member
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申请号: CN201010542474.0申请日: 2010-11-02
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公开(公告)号: CN102053173B公开(公告)日: 2015-04-22
- 发明人: 大里卫知
- 申请人: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
- 申请人地址: 日本国东京都武藏野市吉祥寺本町2丁目6番8号
- 专利权人: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
- 当前专利权人: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
- 当前专利权人地址: 日本国东京都武藏野市吉祥寺本町2丁目6番8号
- 代理机构: 上海市华诚律师事务所
- 代理商 徐申民
- 优先权: 2009-252950 2009.11.04 JP
- 主分类号: G01R1/073
- IPC分类号: G01R1/073 ; G01R31/26
摘要:
本发明的课题在于提供一种能够进行稳定的电连接且不会在突起状连接电极的突起顶点留下刮擦痕迹的探针引导件、悬臂型探针板以及半导体装置的试验方法。本发明通过提供以下这样的探针引导件、具有这样的引导件的悬臂型探针板以及使用这样的引导件的半导体装置的试验方法来解决上述课题,该探针引导件设有具有直线状侧部的引导孔,在试验时,所述引导孔引导与突起状连接电极接触的探针顶端部在沿着其刮擦方向的直线方向上移动,在所述探针引导件相对于突起状连接电极被定位在使用位置时,该引导孔在与突起状连接电极的顶点周边部相对的位置开口,所述顶点周边部偏离通过所述突起状连接电极的突起顶点的刮擦方向的中心线。
公开/授权文献
- CN102053173A 探针引导件、探针板及使用它的半导体装置的试验方法 公开/授权日:2011-05-11