发明授权
- 专利标题： 一种助听兼容性测试方法
- 专利标题（英）： Hearing aid compatibility test method
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申请号： CN200910110161.5申请日： 2009-10-30
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公开(公告)号： CN102056069B公开(公告)日： 2013-12-11
- 发明人: 高旭 , 张志军 , 冯正和 , 马迪文 , 李展 , 阎勇
- 申请人： 清华大学 , 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区清华园1号清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室
- 专利权人： 清华大学,鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
- 当前专利权人： 清华大学,鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区清华园1号清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室
- 主分类号： H04R29/00
- IPC分类号： H04R29/00
摘要：
本发明涉及一种助听兼容性测试方法，其包括以下步骤：提供一助听兼容性测试一体化探头；提供一待测信号源，并确定一测试区；在所述测试区上均匀画出11条经线和11条纬线以将该测试区分成100个5*5的小区域；利用所述助听兼容性用探头的磁探头和电探头对所述11条经线与11条纬线的所有交点进行测量，并获得各点的磁场参数或电场参数；以及选取所述磁探头与电探头同时获得的磁场参数与电场参数以测试所述待测信号源的助听兼容性。
公开/授权文献
- CN102056069A 一种助听兼容性测试方法 公开/授权日：2011-05-11
