- 专利标题: 电阻变化型非易失性存储元件的写入方法及电阻变化型非易失性存储装置
- 专利标题(英): Method of writing for resistance-change non-volatile memory element, and resistance-change non-volatile memory device
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申请号: CN201080001956.3申请日: 2010-06-08
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公开(公告)号: CN102099863B公开(公告)日: 2014-04-02
- 发明人: 河合贤 , 岛川一彦 , 村冈俊作 , 东亮太郎
- 申请人: 松下电器产业株式会社
- 申请人地址: 日本大阪府
- 专利权人: 松下电器产业株式会社
- 当前专利权人: 松下半导体解决方案株式会社
- 当前专利权人地址: 日本大阪府
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 胡建新
- 优先权: 2009-137759 2009.06.08 JP
- 国际申请: PCT/JP2010/003802 2010.06.08
- 国际公布: WO2010/143414 JA 2010.12.16
- 进入国家日期: 2010-12-28
- 主分类号: G11C13/00
- IPC分类号: G11C13/00
摘要:
提供一种能够使电阻变化元件的动作窗口最大化的电阻变化元件的适当的写入方法。该写入方法是对根据被施加的电压脉冲的极性而可逆地转变为高电阻状态和低电阻状态的电阻变化型非易失性存储元件的写入方法,包括准备步骤(S50)和写入步骤(S51、S51a、S51b);在准备步骤(S50)中,通过一边对电阻变化元件施加电压逐渐变大的电压脉冲一边测量电阻变化元件的电阻值,决定高电阻化开始的第1电压V1以及电阻值为最大的第2电压V2;在高电阻化步骤(S51a)中,通过对电阻变化元件施加具有第1电压V1以上且第2电压V2以下的电压Vp的电压脉冲,使电阻变化元件从低电阻状态(S52)转变为高电阻状态(S53)。
公开/授权文献
- CN102099863A 电阻变化型非易失性存储元件的写入方法及电阻变化型非易失性存储装置 公开/授权日:2011-06-15