发明公开
CN102105806A 基于单向探头对电子装置进行多维测试的方法和机器
失效 - 权利终止
- 专利标题: 基于单向探头对电子装置进行多维测试的方法和机器
- 专利标题(英): Method and machine for multidimensional testing of an electronic device on the basis of a monodirectional probe
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申请号: CN200980129201.9申请日: 2009-06-24
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公开(公告)号: CN102105806A公开(公告)日: 2011-06-22
- 发明人: P·佩迪
- 申请人: 法国国家太空研究中心
- 申请人地址: 法国巴黎
- 专利权人: 法国国家太空研究中心
- 当前专利权人: 法国国家太空研究中心
- 当前专利权人地址: 法国巴黎
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 陈松涛; 王英
- 优先权: 08.03567 2008.06.25 FR
- 国际申请: PCT/FR2009/051204 2009.06.24
- 国际公布: WO2010/004167 FR 2010.01.14
- 进入国家日期: 2011-01-25
- 主分类号: G01R31/302
- IPC分类号: G01R31/302 ; G01R31/315 ; G01R31/265
摘要:
本发明涉及一种用于测试电子装置的方法和机器,其中由单向测量探头(46)测量所发射的磁场,其特征在于:由探头(46)测量沿轴ZZ’的磁场分量Bz的第一值(Bz1)并对其进行记录,然后通过绕着与所述轴ZZ’正交的轴XX’根据小于90°的角幅度相对枢转使所述探头(46)和所述电子装置彼此相对移动,同时针对轴ZZ’的每个位置(x,y)保持在同一距离d0处,由探头(46)测量沿轴ZZ’的磁场分量Bz的第二值(Bz2)并对其进行记录,然后基于已经获得的第一值Bz1和第二值Bz2确定所述磁场沿着与所述轴ZZ’和XX’正交的轴YY’的分量By的值并对其进行记录。
公开/授权文献
- CN102105806B 基于单向探头对电子装置进行多维测试的方法和机器 公开/授权日:2014-12-24