本发明提供一种阵列光纤长度差距的测量方法，包括：第一步，准备测试装置，包括：一宽带光源、一具有一输入端口和第一和第二输出端口的光环形器、一1×2光耦合器、一多通道阵列光纤和一光谱分析仪；第二步，将光环形器的输入端口与所述宽带光源光耦合，并使光环形器的第一输出端与1×2光耦合器的输入端光耦合，所述第二输出端口与光谱分析仪光耦合，1×2光耦合器的两输出端与多通道阵列光纤待测试的任意两路光纤各自光耦合，并自由空间范围(FSR)数据值，再换算成以频率表示的自由空间范围(FSRv)数据值；第三步，通过公式计算出多通道阵列光纤的待测试两路光纤差距d值，当大于0.2mm时，研磨长端光纤，使其达到要求。