一种重频可调光频梳波长标定系统

    公开(公告)号:CN118603333A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202411061706.9

    申请日:2024-08-05

    IPC分类号: G01J9/02

    摘要: 本发明涉及重频可调光频梳波长标定技术领域,且公开了一种重频可调光频梳波长标定系统,包括光频梳锁定模块、激光光谱形状和光谱相位分析模块、频率分析模块、光路分析模块、光谱还原模块、波长定标噪声分析模块、数据采集模块以及人机交互模块;通过利用光频梳进行波长标定,利用光频梳可输出稳定频率的特性,形成一种精确且稳定波长定标方法,光频梳锁定其中一根光频梳的梳齿位置,所有梳齿的位置都被稳定下来,一般选择锁定光频梳的第一根梳齿,即载波包络相位偏移频率,但第一根梳齿无法被直接测量;利用自参考测量方法测量飞秒脉冲,得到光学梳的重复频率和偏移频率。

    矢量微分剪切干涉仪用二维微分相位分布同步提取方法

    公开(公告)号:CN118603331A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410465945.4

    申请日:2024-04-18

    IPC分类号: G01J9/02

    摘要: 本发明属于光学干涉测量技术领域,具体涉及矢量微分剪切干涉仪用二维微分相位分布同步提取方法,包括以下步骤:步骤一:搭建光学系统,以三束物光通过正交矢量微分剪切干涉技术进行调整,使三束物光两两之间形成错位干涉,在干涉平面上,建构公式①和②;步骤二~七:利用相移装置,分别对三束物光进行相移;步骤八:将步骤二~七中储存的具有相移的矢量微分剪切干涉结果I1~I6带入公式②,得到两个正交方向上的微分相位分布#imgabs0#和#imgabs1#本发明能够在不损失光学系统空间分辨率的前提下,有效解决矢量微分剪切干涉图中二维微分相位的耦合问题,实现对二维微分相位分布的同步分离和定量提取。

    一种光栅周期失配设计的光栅干涉波前检测方法及装置

    公开(公告)号:CN116878420B

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202310514944.X

    申请日:2023-05-09

    发明人: 刘方 李明

    IPC分类号: G01B11/25 G01J9/02

    摘要: 本发明公开了一种光栅周期失配设计的光栅干涉波前检测方法及装置。本发明可实现更加灵活的系统设计并有效提高波前检测精度。本方法为:1)根据分束光栅周期P1和分析光栅周期P2确定泰伯条纹周期P′T,并根据X射线波长λ、泰伯级次m、P1和P′T计算得到微焦点X射线源到分束光栅的长度S、微焦点X射线源与分束光栅之间距离R以及分束光栅与分析光栅之间的距离d;其中P1>P′T>P2;2)根据S、R、d搭建光栅干涉仪波前检测装置,分别测量有无待测样品时成像探测器上的莫尔条纹图像作为参考图、样品图;3)根据参考图、样品图计算光线横向位移量δr,然后结合S、R、d计算出等效波前斜率α,对α积分得到样品的面形分布。

    一种解析的双波长相位解耦方法

    公开(公告)号:CN114112075B

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202111371698.4

    申请日:2021-11-18

    IPC分类号: G01J9/02

    摘要: 本发明涉及相干衍射成像,具体涉及一种解析的双波长相位解耦方法,用于解决现有相位解耦方法或是由于扫描技术导致测量系统的复杂性增加和测量速度降低,或是由于灌注技术导致样品的原始状态被破坏的不足之处。该解析的双波长相位解耦方法不再使用扫描技术或者灌注技术,而是使用成像探测器记录不同波长下的衍射图像的强度信息,通过设计算法求解高阶方程组,从而获得了样品的折射率分布和厚度分布。

    一种波前重建方法及装置

    公开(公告)号:CN116659686B

    公开(公告)日:2024-06-28

    申请号:CN202310477232.5

    申请日:2023-04-27

    摘要: 本发明公开了一种波前重建方法及装置,涉及光学测量领域。解决现有的横向剪切干涉波前重建精度受剪切干涉图正交性的影响,存在算法实现复杂,从而导致波前重建精度低的问题。该方法包括:根据待测波前和其沿不同方向的剪切波前得到至少包括两个任意方向的差分波前,将至少包括两个任意方向的差分波前组合得到差分波前矩阵和以及相对应的差分Zernike多项式组成差分Zernike矩阵;通过最小二乘矩阵系数拟合将所述差分波前矩阵拟合至所述差分Zernike矩阵,得到与待测波前对应的Zernike多项式系数和所述待测波前。

    一种调谐激光器波长快速扫描系统及方法

    公开(公告)号:CN118249179A

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202410334257.4

    申请日:2024-03-22

    IPC分类号: H01S3/091 G01J9/02 H01S3/107

    摘要: 本发明关于一种调谐激光器波长快速扫描系统及方法,涉及调谐激光器技术领域。包括调谐激光器,切换激光输出波长;电驱动模块,为调谐激光器提供精确的电流或电压;温度控制模块,为调谐激光器提供稳定的工作温度;光分束器,将光信号分为两路,一路输出给目标,另一路输出给光学标准具;光学标准监测调谐激光器输出波长的偏移量;光电探测器,将光信号转换为电信号;微控制器,存储波长序列查找表,设置调谐激光器的工作温度,对电驱动模块下发指令,建立查找表中对应的电流或电压,微调电驱动模块的输出电流或电压,实现输出波长的闭环控制。本发明以简单的结构来实现调谐激光器的波长快速扫描,成本降低的同时,还能保证扫描精度。

    光学测定方法和光学测定系统
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118235026A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202180104033.9

    申请日:2021-11-08

    发明人: 下田健作

    摘要: 光学测定方法包括以下步骤:构成用于记录全息图的光学系统,所述全息图是利用照明光和相干的参考光将利用照明光对试样进行照明所得到的物体光进行调制而生成的全息图;在不存在试样的状态下,在照明光的光学路径上配置包括产生已知的光波分布的光学系统的校正单元;记录在校正单元产生光波分布的状态下生成的第一全息图;以及基于表示校正单元的配置位置的信息、已知的光波分布、以及第一全息图,来计算参考光的光波分布的信息。

    一种基于激光模场的时空特性的测量仪

    公开(公告)号:CN118168672A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202410350159.X

    申请日:2024-03-26

    申请人: 四川大学

    发明人: 冯国英 李筱薇

    IPC分类号: G01J9/02 G01M11/00 G01M11/02

    摘要: 本发明提供了一种基于激光模场的时空特性测量仪,属于激光模式测量领域。本发明所述方法通过采集激光光源的输出光谱信息,可有效对宽光谱线宽激光器输出光场中模式的有效分解;其次,基于模场分辨,使用相位相关的空间光调制器进行调制,后期通过计算每个模式与基模之间的干涉振幅变化,实现对窄线宽激光器的模式输出的有效分解;最后,基于双光路干涉,获取干涉光场的相位、振幅信息,对传输光场进行重建。该方法从时域、空域、频域对激光传输光场中包含的模式成分进行更全面的分析,具有稳定性高,不需要高精度的二维扫描设备等优点,可应用于窄线宽光谱至宽光谱的光纤激光器输出光束的模式成分测量。

    基于纳秒脉冲激光的时间分辨率复振幅测量方法及装置

    公开(公告)号:CN118067251A

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202410317498.8

    申请日:2024-03-20

    申请人: 四川大学

    发明人: 冯国英 袁晨源

    IPC分类号: G01J9/02

    摘要: 本发明公开了一种基于纳秒脉冲激光的时间分辨率测量仪。所述纳秒脉冲激光复振幅重构方法包括几个重要步骤,其中包括光路调试、图像采集、时间切片复振幅重构和纳秒脉冲激光复振幅重建。所述测量装置包括光源系统、多程反射系统和图像采集系统,光源系统采用纳秒激光器,由分束器分为测试光和参考光,测试光经过多程反射系统,多次反射透射产生一系列带有不同光程差的透射光入射到图像采集系统的四个CCD表面与点衍射系统滤波后的参考光发生干涉,每一个干涉图样对应解出时间切片复振幅信息,最终进行时间积分得到纳秒脉冲激光复振幅信息。本发明相比传统波前测量技术能够更高精度重建纳秒脉光波的复振幅信息。