发明公开
CN102124357A 测试装置及测试方法
无效 - 撤回
- 专利标题: 测试装置及测试方法
- 专利标题(英): Test device and testing method
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申请号: CN200980132119.1申请日: 2009-08-19
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公开(公告)号: CN102124357A公开(公告)日: 2011-07-13
- 发明人: 寒竹秀介
- 申请人: 爱德万测试株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 爱德万测试株式会社
- 当前专利权人: 爱德万测试株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京英特普罗知识产权代理有限公司
- 代理商 齐永红
- 优先权: 2008-211123 2008.08.19 JP
- 国际申请: PCT/JP2009/003954 2009.08.19
- 国际公布: WO2010/021131 JA 2010.02.25
- 进入国家日期: 2011-02-18
- 主分类号: G01R31/28
- IPC分类号: G01R31/28
摘要:
本发明公开了一种测试装置,对包括相互非同步动作的多个块的被测试设备进行测试的测试装置中,包括与多个块分别相应设置的多个域测试单元以及控制多个域测试单元的主体单元,其中,主体单元包括生成提供给多个域测试单元中的每一个基准动作时钟的基准动作时钟生成部,以及生成针对多个域测试单元中的每一个指示测试开始的测试开始信号的测试开始信号生成部,多个域测试单元中的每一个包括根据基准动作时钟生成测试时钟的测试时钟生成部,生成根据通过测试时钟生成部所得到的测试时钟对多个块中的相应块进行测试的测试信号,多个域测试单元中的每一个,以接收到测试开始信号为条件来开始测试信号的生成。