- 专利标题: 二次电池劣化判定方法、二次电池劣化判定装置、及电源系统
- 专利标题(英): Secondary cell degradation judgment method, secondary cell degradation judgment device, and power supply system
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申请号: CN201010575509.0申请日: 2006-09-13
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公开(公告)号: CN102129039B公开(公告)日: 2013-01-16
- 发明人: 岩根典靖 , 木村贵史 , 藤村幸司 , 渡边勇一 , 佐藤敏幸 , 岩花史和 , 饭岛崇
- 申请人: 古河电气工业株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 古河电气工业株式会社
- 当前专利权人: 古河电气工业株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 李贵亮
- 优先权: 2005-270917 2005.09.16 JP; 2005-300333 2005.10.14 JP; 2006-007980 2006.01.16 JP
- 分案原申请号: 2006800298391 2006.09.13
- 主分类号: G01R31/36
- IPC分类号: G01R31/36
摘要:
二次电池劣化判定方法根据向负载供电的二次电池的内部阻抗或内部电阻来判定二次电池的劣化状态,其特征在于,预先设定规定的温度特性函数,该温度特性函数包括至少一个以上的指数项和一个调整参数,并表示内部阻抗或内部电阻的温度依存性,以二次电池按规定电流进行充电或放电时的电流测定值以及电压测定值为基础,计算内部阻抗或内部电阻,将二次电池按规定电流进行充电或放电时的二次电池的温度测定值和计算出的内部阻抗或内部电阻代入温度特性函数中来确定调整参数的值,将确定的调整参数的值和规定的基准温度代入温度特性函数来计算基准内部阻抗或基准内部电阻,根据计算出的基准内部阻抗或基准内部电阻来判定二次电池的劣化状态。
公开/授权文献
- CN102129039A 二次电池劣化判定方法、二次电池劣化判定装置、及电源系统 公开/授权日:2011-07-20