发明公开
- 专利标题: 用于制造微机电系统装置的方法
- 专利标题(英): Method for fabricating MEMS device
-
申请号: CN201010172538.2申请日: 2010-05-07
-
公开(公告)号: CN102134054A公开(公告)日: 2011-07-27
- 发明人: 谢聪敏 , 李建兴 , 刘志成
- 申请人: 鑫创科技股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹县
- 专利权人: 鑫创科技股份有限公司
- 当前专利权人: 鑫创科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹县
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 彭久云
- 优先权: 12/691,754 2010.01.22 US
- 主分类号: B81C1/00
- IPC分类号: B81C1/00 ; H04R31/00
摘要:
一种用于制造MEMS装置的方法,其包含:提供单晶体衬底,其具有第一表面和第二表面且具有MEMS区和IC区;在第一表面上在MEMS区中形成SCS质量块;在衬底的第一表面上形成结构介电层,其中结构介电层的介电部件填充于围绕MEMS区中的SCS质量块的空间中,IC区具有电路结构,所述电路结构具有形成于结构介电层中的互连结构;通过蚀刻工艺在第二表面上将单晶体衬底图案化以暴露填充于围绕SCS质量块的空间中的介电部件的一部分;至少对填充于围绕SCS质量块的空间中的介电部分执行各向同性蚀刻工艺。暴露SCS质量块以释放MEMS结构。
公开/授权文献
- CN102134054B 用于制造微机电系统装置的方法 公开/授权日:2013-06-12