发明公开
CN102136234A 用于测试微间距阵列的探针单元
失效 - 权利终止
- 专利标题: 用于测试微间距阵列的探针单元
- 专利标题(英): Probe unit testing micro pitch array
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申请号: CN201110033221.5申请日: 2011-01-24
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公开(公告)号: CN102136234A公开(公告)日: 2011-07-27
- 发明人: 金宪敏
- 申请人: 寇地斯股份有限公司
- 申请人地址: 韩国京畿道
- 专利权人: 寇地斯股份有限公司
- 当前专利权人: 寇地斯股份有限公司
- 当前专利权人地址: 韩国京畿道
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 张欣
- 优先权: 10-2010-0006569 2010.01.25 KR
- 主分类号: G09G3/00
- IPC分类号: G09G3/00 ; G01R1/073
摘要:
本文公开了用于测试微间距阵列的探针单元,该探针单元在探针片有两行或更多行触点时使各行触点能与测试目标稳定地接触。探针单元包括:探针片,该探针片包括绝缘膜和在绝缘膜上形成的引线图案,其中图案化引线的特定部分构成与测试目标接触且在两行或更多行中形成的触点;紧固探针片的体块;以及设置至体块的按压构件,用于向测试目标按压触点,以使各行触点可分别由按压构件来按压。
公开/授权文献
- CN102136234B 用于测试微间距阵列的探针单元 公开/授权日:2013-09-04