- 专利标题： 定时发生器和测试装置以及测试速率的控制方法
- 专利标题（英）： Timing generator, test device, and test rate control method
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申请号： CN200980144118.9申请日： 2009-10-29
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公开(公告)号： CN102204095B公开(公告)日： 2015-07-08
- 发明人: 渡边大辅 , 冈安俊幸
- 申请人： 株式会社爱德万测试
- 申请人地址： 日本东京
- 专利权人： 株式会社爱德万测试
- 当前专利权人： 株式会社爱德万测试
- 当前专利权人地址： 日本东京
- 代理机构： 北京同达信恒知识产权代理有限公司
- 代理商 黄志华
- 优先权： 12/344,424 2008.12.26 US
- 国际申请： PCT/JP2009/005742 2009.10.29
- 国际公布： WO2010/073458 JA 2010.07.01
- 进入国家日期： 2011-05-04
- 主分类号： G01R31/30
- IPC分类号： G01R31/30 ; G01R31/317
摘要：
延迟设定数据生成部(10)根据速率数据DRATE而生成延迟设定数据DDS。可变延迟电路(30)以规定的单位延迟量τu作为标准，从而使测试图形数据DPAT延迟了与延迟设定数据DDS相对应的延迟时间τ。第一速率数据DRATE1以单位延迟量τu的精度来指定测试图形数据的周期τ。第二速率数据DRATE2以高于单位延迟量τu的精度，来指定测试图形数据的周期。延迟设定数据生成部(10)以与第二速率数据DRATE2相对应的比例，将第一值X1和第二值X2进行时分输出，所述第一值X1和第二值X2与第一速率数据DRATE1相对应。
公开/授权文献
- CN102204095A 定时发生器和测试装置以及测试速率的控制方法 公开/授权日：2011-09-28
