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公开(公告)号：CN1223864C
公开(公告)日：2005-10-19
申请号：CN03101070.9
申请日：1998-02-05
申请人： 株式会社爱德万测试
发明人： 冈安俊幸
摘要： 一种IC试验装置，包括主框架和试验头，主框架包括图形发生器和逻辑比较器，试验头安装在远离该主框架但接近被试验IC的地方。所述主框架还包括光源和光电检测器；所述试验头还包括电介质基片，在该基片上形成的光分支部分、光汇合部分、互相并行地形成在光分支部分和光汇合部分之间的第一和第二光波导和第一、第二电极和共用电极。被试验IC输出的应答信号被提供给光输出型电压传感器，利用该光输出型电压传感器将被试验IC输出的电压信号作为光信号传送到主框架，利用光信号在主框架和试验头之间进行信号的授受，可以进行高速操作。
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公开(公告)号：CN1252130A
公开(公告)日：2000-05-03
申请号：CN98803958.3
申请日：1998-02-05
申请人： 株式会社爱德万测试
发明人： 冈安俊幸
CPC分类号： G01R15/241
摘要： 一种电流测定方法,将被测定电流变换为电压信号,利用该电压信号对透过光调制器的光进行相位调制,使该相位调制了的光和未相位调制的光干扰得到干扰光,利用该干扰光的强度测定被测定电流;一种IC试验装置,使用该电流测定方法,测定流过被试验IC的电源端子的电流,在该电流值大于规定值的情况下判定该被试验IC不合格。
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公开(公告)号：CN1206467A
公开(公告)日：1999-01-27
申请号：CN97191480.X
申请日：1997-11-13
申请人： 株式会社爱德万测试
发明人： 冈安俊幸
IPC分类号： G01R31/319
摘要： 在用于对与测试头连接的IC设备进行测试的IC设备测试器中,测试器主系统与测试头之间的所有信号交换都采用光信号交换,它们之间的信号传输线都由光纤构成,因此,连接测试器主系统与测试头的缆线组的直径可以做得很小,并且可以根据需要来延长缆线组的长度。
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公开(公告)号：CN102112931B
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN200980129971.3
申请日：2009-06-24
申请人： 株式会社爱德万测试
CPC分类号： G01R31/31709 , G04F10/005 , G04F10/10 , H03K5/135 , H03K5/15026 , H03K2005/00234
摘要： 时间测量电路(10)测量第1信号(S1)和第2信号(S2)的边沿的时间差。采样电路(12)以第2信号(S2)的边沿的定时读入第1信号(S1)的逻辑电平。采样电路(12)变为亚稳状态时，输出信号(S3)以较长的时间标度进行过渡。过渡时间测量电路(14)测量采样电路(12)在亚稳状态下的输出信号(S3)的过渡时间(稳定时间)。
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公开(公告)号：CN102150054A
公开(公告)日：2011-08-10
申请号：CN200980135553.5
申请日：2009-09-03
申请人： 株式会社爱德万测试
CPC分类号： G11C29/56 , G01R31/31721 , G11C29/12005 , G11C2029/5602
摘要： 主电源(10)将电源电压(Vdd)提供给DUT(100)的电源端子(102)。控制图形生成部(22)用于生成包含脉冲列的控制图形(CNT)。补偿电路(20)根据控制图形(CNT)，而从与主电源(10)不同的通路向DUT(100)的电源端子(102)中间歇性地注入补偿电流(Icmp)。开关(20b)被设置在电压源(20a)的输出端子和DUT(100)的电源端子(102)之间，并根据控制图形(CNT)而切换为开、关。
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公开(公告)号：CN101657966A
公开(公告)日：2010-02-24
申请号：CN200880009100.3
申请日：2008-03-18
申请人： 株式会社爱德万测试
CPC分类号： H04L7/033 , G01R31/31727 , G01R31/31937 , H03L7/0812 , H04L7/0037
摘要： 变化点检测电路(16)从作为输入数据的串行数据(S1)中抽取时钟信号(S3)。可变延迟电路(40)向具有规定频率的基准信号(S4)提供与延迟控制信号(S8a)相应的延迟，使基准信号(S4)的相位以初始延迟为基准移相。输入锁存电路(14)将可变延迟电路(40)的输出信号作为选通(Strobe)信号(S5)来锁存内部串行数据(S2)。相位比较器(22)使时钟信号(S3)和选通信号(S5)的频率一致，生成与两个信号相位差相应的相位差数据(S9)。环路滤波器(30)对通过相位比较器22所生成的相位差数据(S9)进行积分，并作为延迟控制信号(S8a)输出。相移量获取部(50)根据延迟控制信号(S8a)来获取以可变延迟电路(40)提供给基准信号的初始延迟为基准的相移量。
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公开(公告)号：CN1565094A
公开(公告)日：2005-01-12
申请号：CN02819801.8
申请日：2002-10-02
申请人： 株式会社爱德万测试
CPC分类号： H04B10/504 , G01J1/44 , H04B10/5561 , H04B10/69
摘要： 本发明是关于一种资料传送装置、光电转换电路以及测试装置。该资料传送装置，是利用光传送进行资料通讯，此装置包括发送部及光电转换电路。发送部是将所传送的电通讯资料转换成光通讯资料并送出。光电转换电路是接收光通讯资料且将所接收的光通讯资料转换成电通讯资料。光电转换电路是具有光学二极管与可变电流源。光学二极管是以光通讯资料为基准产生电流。可变电流源是将光学二极管所产生的电流减低至预定的电流。再者，各个发送部的激光二极管的偏压电流是设定成比激光振荡起始电流还大的电流，可以减低各激光二极管的发光延迟时间的偏差。
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公开(公告)号：CN1216182A
公开(公告)日：1999-05-05
申请号：CN98800050.4
申请日：1998-01-22
申请人： 株式会社爱德万测试
IPC分类号： H04B10/152 , H01S3/10
CPC分类号： H04B10/508 , H04B10/54 , H04B10/691
摘要： 提供一种对定时精度高且周期不定并存在直流成分的信号也能够高精度地进行光传输的光传输方式。在发送侧具有:上升沿检测电路1,检测传输信号波形的上升沿;传输用脉冲产生电路2,产生传输用脉冲信号(b)、该传输用脉冲信号(b)以该检测定时为界,由极性相互反转的极性反转脉冲对构成;和光强度调制电路3,根据所述脉冲信号(b)生成光强度调制信号(c);在接收侧具有:AC耦合接收电路4,接收光强度调制信号(c)、并仅取出其交流成分;和识别电路5,从接收信号识别上升定时。并且,设有传输有关传输信号波形下降的信号的同样的结构,根据识别的上升定时及下降定时再现原传输信号波形的上升沿及下降沿。
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公开(公告)号：CN102089669B
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN200980127150.6
申请日：2009-07-09
申请人： 株式会社爱德万测试
IPC分类号： G01R31/3187 , G01R31/319
CPC分类号： G01R31/31908 , G11C29/48 , G11C29/56 , G11C2029/0401
摘要： 接口电路经由与主总线不同的测试控制总线BUS3连接到ATE，接收从ATE输出的控制信号，并且根据该控制信号控制多个BIST电路。此外，DUT被配置成，使得ATE能够经由测试控制总线读出该控制信号所指定的测试结果信号。BISI同步控制单元生成第一控制信号和第二控制信号，并且将这些信号经由测试控制总线提供给DUT，所述第一控制信号用于各个地控制包含在DUT中的多个BIST电路，所述第二控制信号用于读取BIST电路所生成的测试结果信号。
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公开(公告)号：CN1846141A
公开(公告)日：2006-10-11
申请号：CN200480025335.3
申请日：2004-09-08
申请人： 株式会社爱德万测试
IPC分类号： G01R31/316
CPC分类号： G01R31/31932 , G01R31/3191
摘要： 一种用于对装置测试的测试设备，包括：定时发生器，用于生成指明施加测试信号的定时的定时信号；多个定时延迟部件，用于延迟所述定时信号；多个驱动器，用于施加所述测试信号；采样器，用于对所述测试信号进行采样，以输出采样电压；比较器，用于输出指明所述采样电压是否高于参考电压的比较结果；确定部件，用于确定所述采样电压是否与所述参考电压一致；和定时校准部件，用于校准由所述多个定时延迟部件提供的定时信号中的延迟时间，从而使得将所述测试信号施加到该被测试装置的定时彼此一致。
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