发明公开
CN102245107A 用于放大的3D视场的半圆反向偏移扫描
无效 - 撤回
- 专利标题: 用于放大的3D视场的半圆反向偏移扫描
- 专利标题(英): Semicircular inversed offset scanning for enlarged field of view 3d
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申请号: CN200980150149.5申请日: 2009-12-08
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公开(公告)号: CN102245107A公开(公告)日: 2011-11-16
- 发明人: N·J·努尔德霍尔克
- 申请人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 申请人地址: 荷兰艾恩德霍芬
- 专利权人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 当前专利权人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 荷兰艾恩德霍芬
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 陈松涛; 蹇炜
- 优先权: 08171597.1 2008.12.15 EP
- 国际申请: PCT/IB2009/055572 2009.12.08
- 国际公布: WO2010/070527 EN 2010.06.24
- 进入国家日期: 2011-06-14
- 主分类号: A61B6/03
- IPC分类号: A61B6/03
摘要:
一种计算机层析成像获取方法、一种成像系统、一种计算机可读介质提供:将辐射探测器(204)从具有中心横向视场并具有中心探测器几何结构的位置侧向移位至第一偏移位置(212);由所述辐射源(202)发射第一辐射、由所述辐射探测器(204)探测所述第一辐射、并获取表示所述第一辐射的投射数据;绕所述旋转轴(214)旋转所述支撑体180°;由所述辐射源(202)发射第二辐射、由所述辐射探测器(204)探测所述第二辐射、并获取表示所述第二辐射的投射数据;以与所述第一移位(a)相反的方向和所述第一移位(a)两倍的长度将所述辐射源(204)从所述第一偏移位置侧向移位至第二偏移位置(226);由所述辐射源(202)发射第三辐射、由所述辐射探测器(204)探测所述第三辐射、并获取表示所述第三辐射的投射数据;绕所述旋转轴(214)旋转所述支撑体180°;以及由所述辐射源(202)发射第四辐射、由所述辐射探测器(204)探测所述第四辐射、并获取表示所述第四辐射的投射数据。