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公开(公告)号：CN105717532B
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201610081264.3
申请日：2008-04-09
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： R·M·斯诺尔仁 , H·施泰因豪泽 , N·J·努尔德霍尔克 , M·西蒙
CPC分类号： G01T1/2018 , G01T1/2928
摘要： 一种提供与针对初级辐射的闪烁体的空间增益分布有关的信息的方法，其不需要利用初级辐射来照射闪烁体。所述方法包括利用次级辐射照射闪烁体，以为所述次级辐射生成闪烁体的空间次级增益分布的图像。所述空间次级增益分布图像与针对初极辐射的空间初级增益分布的图像相对应。在本发明的一个实施例中，即，在初级辐射是X射线辐射的X射线成像设备中，本发明提供X射线探测器的精确校准而不需要利用X射线辐射来照射X射线探测器。而是，利用UV辐射作为次级辐射的照射提供了可用于校准的所期望的空间次级增益分布图像。
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公开(公告)号：CN101652677A
公开(公告)日：2010-02-17
申请号：CN200880011645.8
申请日：2008-04-09
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： R·M·斯诺尔仁 , H·施泰因豪泽 , N·J·努尔德霍尔克 , M·西蒙
IPC分类号： G01T1/20
CPC分类号： G01T1/2018 , G01T1/2928
摘要： 一种提供与针对初级辐射的闪烁体的空间增益分布有关的信息的方法，其不需要利用初级辐射来照射闪烁体。所述方法包括利用次级辐射照射闪烁体，以为所述次级辐射生成闪烁体的空间次级增益分布的图像。所述空间次级增益分布图像与针对初极辐射的空间初级增益分布的图像相对应。在本发明的一个实施例中，即，在初级辐射是X射线辐射的X射线成像设备中，本发明提供X射线探测器的精确校准而不需要利用X射线辐射来照射X射线探测器。而是，利用UV辐射作为次级辐射的照射提供了可用于校准的所期望的空间次级增益分布图像。
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公开(公告)号：CN105717532A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201610081264.3
申请日：2008-04-09
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： R·M·斯诺尔仁 , H·施泰因豪泽 , N·J·努尔德霍尔克 , M·西蒙
CPC分类号： G01T1/2018 , G01T1/2928
摘要： 一种提供与针对初级辐射的闪烁体的空间增益分布有关的信息的方法，其不需要利用初级辐射来照射闪烁体。所述方法包括利用次级辐射照射闪烁体，以为所述次级辐射生成闪烁体的空间次级增益分布的图像。所述空间次级增益分布图像与针对初极辐射的空间初级增益分布的图像相对应。在本发明的一个实施例中，即，在初级辐射是X射线辐射的X射线成像设备中，本发明提供X射线探测器的精确校准而不需要利用X射线辐射来照射X射线探测器。而是，利用UV辐射作为次级辐射的照射提供了可用于校准的所期望的空间次级增益分布图像。
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公开(公告)号：CN102481133B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201080039760.3
申请日：2010-09-01
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： N·J·努尔德霍尔克 , A·巴尔吉德
IPC分类号： A61B6/00
CPC分类号： A61B6/481 , A61B6/4441 , A61B6/466
摘要： 一种X射线设备10，其在前向移动F期间执行对象的第一次扫描并且在后向移动B期间执行第二次扫描。由于通过X射线设备10的臂12支撑的X射线成像装置18的扫刷式移动，两次扫描之间的时间可能是非常短的。
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公开(公告)号：CN101534714B
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN200780040898.3
申请日：2007-10-24
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： N·J·努尔德霍尔克
CPC分类号： A61B6/035 , A61B6/4441 , A61B6/4464 , A61B6/4488 , A61B6/56
摘要： 当前的C形臂检查设备不能够执行360度的旋转。其原因在于将外部机柜连接到探测器、准直器和X射线管的布线不允许这种旋转。根据本发明的示例性实施例，提供一种检查装置，其具有将外部机柜连接到C形臂的连接设备，该连接设备适于实现C形臂多于360度的旋转。这种连接设备可以包括用于卷起线缆的存储设备。
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公开(公告)号：CN101652676B
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：CN200880011346.4
申请日：2008-04-08
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： R·M·斯诺尔仁 , H·施泰因豪泽 , N·J·努尔德霍尔克 , M·西蒙
IPC分类号： G01T1/20
CPC分类号： G01T1/2018 , G01T1/20
摘要： 根据本发明的一个实施例，用于探测初级辐射(6)的辐射探测器设备(10)包括：闪烁体(12)，其响应于入射的初级辐射(6)产生经转换的初级辐射；以及光电探测器(14)，其用于探测所述经转换的初级辐射。所述辐射探测器设备(10)还包括次级辐射源(20)，其用于以次级辐射(22)照射所述闪烁体(12)，所述次级辐射(22)具有的波长不同于所述第一辐射(6)的波长并能够为初级辐射产生闪烁体(12)的空间上更均匀的响应。本发明的一个实施例中，辐射探测器设备(10)是X射线成像设备的X射线探测器，其中初级辐射是X射线辐射，并且次级辐射具有350nm和450nm之间的波长。根据一个实施例，具有次级辐射(例如，UV辐射)的照射产生X射线探测器(10)的均匀增益分布。
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公开(公告)号：CN101473348A
公开(公告)日：2009-07-01
申请号：CN200780022897.6
申请日：2007-06-13
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： M·贝尔特拉姆 , J·维格特 , J·蒂默 , N·J·努尔德霍尔克
CPC分类号： G06T11/005 , G06T5/003 , G06T2207/10081 , G06T2207/30004
摘要： 一种用于生成核函数集的方法，所述核函数集用于对由成像系统记录的物理对象的投影图像进行卷积误差补偿，所述方法包括：以如下方式计算所述核函数集，即使得对于所述投影图像中的每个像素计算用于误差补偿的不对称散射分布，从而表示由X射线源到所述像素的射束产生的X射线散射。
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公开(公告)号：CN102481133A
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201080039760.3
申请日：2010-09-01
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： N·J·努尔德霍尔克 , A·巴尔吉德
IPC分类号： A61B6/00
CPC分类号： A61B6/481 , A61B6/4441 , A61B6/466
摘要： 一种X射线设备10，其在前向移动F期间执行对象的第一次扫描并且在后向移动B期间执行第二次扫描。由于通过X射线设备10的臂12支撑的X射线成像装置18的扫刷式移动，两次扫描之间的时间可能是非常短的。
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公开(公告)号：CN102245107A
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：CN200980150149.5
申请日：2009-12-08
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： N·J·努尔德霍尔克
IPC分类号： A61B6/03
CPC分类号： A61B6/032 , A61B6/4014 , A61B6/4233 , A61B6/4435 , A61B6/4441 , A61B6/4452 , A61B6/508
摘要： 一种计算机层析成像获取方法、一种成像系统、一种计算机可读介质提供：将辐射探测器(204)从具有中心横向视场并具有中心探测器几何结构的位置侧向移位至第一偏移位置(212)；由所述辐射源(202)发射第一辐射、由所述辐射探测器(204)探测所述第一辐射、并获取表示所述第一辐射的投射数据；绕所述旋转轴(214)旋转所述支撑体180°；由所述辐射源(202)发射第二辐射、由所述辐射探测器(204)探测所述第二辐射、并获取表示所述第二辐射的投射数据；以与所述第一移位(a)相反的方向和所述第一移位(a)两倍的长度将所述辐射源(204)从所述第一偏移位置侧向移位至第二偏移位置(226)；由所述辐射源(202)发射第三辐射、由所述辐射探测器(204)探测所述第三辐射、并获取表示所述第三辐射的投射数据；绕所述旋转轴(214)旋转所述支撑体180°；以及由所述辐射源(202)发射第四辐射、由所述辐射探测器(204)探测所述第四辐射、并获取表示所述第四辐射的投射数据。
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公开(公告)号：CN101534715B
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN200780041469.8
申请日：2007-10-30
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： N·J·努尔德霍尔克
IPC分类号： A61B6/00
CPC分类号： A61B6/12 , A61B6/4441 , A61B6/547 , A61B34/20 , A61B2034/2051 , A61B2090/376
摘要： 本发明涉及用于预防当金属针存在于扫描视场中时，在活检过程中由计算机断层摄影扫描产生的金属伪影的方法和设备。预先确定金属针的方向和电磁场的方向。针对电磁场的确定，考虑电磁场的源位置和探测器位置。当所确定的电磁场的方向和金属针的方向互相对应时，可以警告用户。
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