发明授权
- 专利标题： 用于市场返修的认证调试访问
- 专利标题（英）： Authenticated debug access for field returns
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申请号： CN201080006319.5申请日： 2010-01-13
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公开(公告)号： CN102301375B公开(公告)日： 2014-09-10
- 发明人: 劳伦斯·L·卡塞 , 阿萨夫·阿史克纳茨 , 鲁齐尔·查布拉 , 卡林·R·科维 , 戴维·H·哈特利 , 特洛伊·E·麦克基 , 阿利斯泰尔·N·缪尔 , 马克·D·雷德曼 , 托马斯·E·特卡奇克 , 约翰·J·瓦利卡 , 罗德尼·D·焦乌科夫斯基
- 申请人： 飞思卡尔半导体公司
- 申请人地址： 美国得克萨斯
- 专利权人： 飞思卡尔半导体公司
- 当前专利权人： 恩智浦美国有限公司
- 当前专利权人地址： 美国得克萨斯
- 代理机构： 中原信达知识产权代理有限责任公司
- 代理商 李宝泉; 周亚荣
- 优先权： 12/363,259 2009.01.30 US
- 国际申请： PCT/US2010/020855 2010.01.13
- 国际公布： WO2010/088043 EN 2010.08.05
- 进入国家日期： 2011-08-01
- 主分类号： G06F11/36
- IPC分类号： G06F11/36
摘要：
在第一方的方向下，集成电路(IC)设备(202)被配置为：通过使用IC设备(202)的密钥(321、322)和在IC设备(202)处生成的挑战值(324)的挑战/响应过程，经由第一方的认证来临时启用对IC设备(202)的调试接口(216)的访问。然后，第一方可以经由调试接口(216)来进行对IC设备(202)的软件评估。响应于没有从软件评估识别出IC设备(202)的问题，第一方可以在认证时永久启用对调试接口(216)的开放访问，并且向第二方提供IC设备(202)。在第二方的方向下，经由第一方永久开放的调试接口(216)来进行对IC设备(202)的硬件评估。
公开/授权文献
- CN102301375A 用于市场返修的认证调试访问 公开/授权日：2011-12-28
