发明公开
- 专利标题: 物品检测设备及其检测方法
- 专利标题(英): Article detection equipment and method
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申请号: CN201010223342.1申请日: 2010-06-30
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公开(公告)号: CN102313753A公开(公告)日: 2012-01-11
- 发明人: 杨祎罡 , 李铁柱 , 张勤俭 , 张翼 , 金颖康 , 陈庆豪 , 李元景 , 刘以农
- 申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清华大学
- 专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华大学
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 刘晓峰
- 主分类号: G01N23/04
- IPC分类号: G01N23/04
摘要:
本发明公开一种物品检测设备,其包括X光机;X光机准直装置;透射探测器阵列;和至少一个散射探测器阵列,所述至少一个散射探测器阵列中的每个散射探测器阵列包括排成i行j列的多个相同的探测模块。其中,物品被X射线透射的透射截面被分成i行xj列个大小相同的分块区域,并且所述每个散射探测器阵列的ixj个探测模块与物品的透射截面的ixj个分块区域一一对应,用于探测对应的分块区域处X射线产生的电子对效应湮没光子和康普顿散射光子,并且根据探测到的电子对效应湮没光子计数与康普顿散射光子计数的比值来获得各个分块区域处的原子序数,从而形成物品的三维图像。另外,还提供一种用上述物品检测设备对物品进行检测的方法。
公开/授权文献
- CN102313753B 物品检测设备及其检测方法 公开/授权日:2014-07-16