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公开(公告)号：CN104345333B
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201310341206.6
申请日：2013-08-07
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T3/00
Abstract: 本发明涉及用于组合中子探测管的阵列组合装置，其包括：至少一个压板堆叠，每个压板堆叠由至少两个压板沿竖直方向叠装而成，在每个压板堆叠所有相邻压板的相对表面上分别形成有至少一条平行于所述阵列组合装置的轴向方向延伸的、相对的夹紧凹槽，而且相邻压板上相对的夹紧凹槽的尺寸和形状被设置成，使得相对的夹紧凹槽可沿整个周向夹紧待组合中子探测管一端绝缘套上径向通气孔两侧的区域；而且每个压板堆叠中的压板至少包括顶层压板和底层压板，在顶层压板的底面上和/或底层压板的顶面上形成有平行于阵列组合装置的横向方向延伸且跨过其上所有夹紧凹槽的通气凹槽。本发明还提供了一种利用所述阵列组合装置来组合中子探测管的中子探测设备。
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公开(公告)号：CN104345333A
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201310341206.6
申请日：2013-08-07
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T3/00
Abstract: 本发明涉及用于组合中子探测管的阵列组合装置，其包括：至少一个压板堆叠，每个压板堆叠由至少两个压板沿竖直方向叠装而成，在每个压板堆叠所有相邻压板的相对表面上分别形成有至少一条平行于所述阵列组合装置的轴向方向延伸的、相对的夹紧凹槽，而且相邻压板上相对的夹紧凹槽的尺寸和形状被设置成，使得相对的夹紧凹槽可沿整个周向夹紧待组合中子探测管一端绝缘套上径向通气孔两侧的区域；而且每个压板堆叠中的压板至少包括顶层压板和底层压板，在顶层压板的底面上和/或底层压板的顶面上形成有平行于阵列组合装置的横向方向延伸且跨过其上所有夹紧凹槽的通气凹槽。本发明还提供了一种利用所述阵列组合装置来组合中子探测管的中子探测设备。
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公开(公告)号：CN102109473B
公开(公告)日：2012-11-28
申请号：CN200910244358.8
申请日：2009-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: G01N23/05
Abstract: 本发明公开了一种利用光中子透射对物体成像的方法，包括步骤：使用中子准直器准直穿过物体的光中子射线以根据该中子准直线的位置确定光中子射线的位置信息；使用探测器模块探测被准直的光中子射线束，其中，探测器模块包括中子慢化体和位于该中子慢化体内部的至少一个热中子探测器，中子慢化体将光中子转化为热中子，热中子探测器测量该热中子以获得光中子射线束穿过物体时的衰减信息；综合所述位置信息和衰减信息以形成所述物体相应部分的图像。该方法利用中子准直器的位置决定光中子射线的位置信息，克服了由于光中子的慢化致使位置信息丧失从而导致无法成像的问题。该方法还通过设置探测器模块阵列来对物体进行成像。
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公开(公告)号：CN102565846A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201110454387.4
申请日：2011-12-30
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T3/00
Abstract: 本发明提供了一种蜂窝型热中子探测器，其包括：蜂窝结构，所述蜂窝结构由一个或多个中空正六棱柱形的蜂窝单元构成，其中每个所述蜂窝单元的管壁内侧涂覆有中子吸收材料。由于采用了对中子敏感的蜂窝结构，使得本发明无需利用紧缺核素3He也可进行热中子检测，有效降低了热中子探测器的制造成本，而且本发明还具有减小或消除了中子检测死区等特点。
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公开(公告)号：CN102313753A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201010223342.1
申请日：2010-06-30
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01V5/0025
Abstract: 本发明公开一种物品检测设备，其包括X光机；X光机准直装置；透射探测器阵列；和至少一个散射探测器阵列，所述至少一个散射探测器阵列中的每个散射探测器阵列包括排成i行j列的多个相同的探测模块。其中，物品被X射线透射的透射截面被分成i行xj列个大小相同的分块区域，并且所述每个散射探测器阵列的ixj个探测模块与物品的透射截面的ixj个分块区域一一对应，用于探测对应的分块区域处X射线产生的电子对效应湮没光子和康普顿散射光子，并且根据探测到的电子对效应湮没光子计数与康普顿散射光子计数的比值来获得各个分块区域处的原子序数，从而形成物品的三维图像。另外，还提供一种用上述物品检测设备对物品进行检测的方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107966460A
公开(公告)日：2018-04-27
申请号：CN201711429492.6
申请日：2017-12-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/005 , G01N2223/1066 , G01N2223/20 , G01N2223/316 , G01V5/0016
Abstract: 本发明公开了一种辐射检查系统和辐射检查方法。辐射检查系统包括辐射源和射束调制装置，射束调制装置包括设置于辐射源的射束出射侧的第一准直结构和设置于第一准直结构的射束出射侧的第二准直结构，第二准直结构与第一准直结构相对可动地设置以改变第一准直结构的第一准直口和第二准直结构的第二准直口的相对位置，使射束调制装置在第一工作状态和第二工作状态之间切换，其中，在第一工作状态，射束调制装置将初始射束调制为扇形束，在第二工作状态，射束调制装置将初始射束调制为位置可变的笔形束。本发明的辐射检查系统和辐射检查方法可以兼顾检查效率和检查精度。
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公开(公告)号：CN103160799A
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN201110426256.5
申请日：2011-12-19
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: C23C16/45525 , C23C16/45555
Abstract: 本发明涉及中子敏感镀膜及其形成方法。本发明的形成中子灵敏镀膜的方法主要包括：将第一敏感膜前驱体馈入反应腔中，使得第一敏感膜前驱体的分子被吸附在基材表面上，从而形成一层由该前驱体的分子构成的分子膜；在清除了反应腔中多余的前驱体后，将不同于第一敏感膜前驱体的另一敏感膜前驱体馈入反应腔中，以使所述另一敏感膜前驱体与基材表面上刚形成的分子膜发生化学反应；之后清除掉反应腔中多余的前驱体；如果还有其他需要馈入的敏感膜前驱体，则依次将其馈入进行反应，并清除多余的前驱体；重复上述馈入前驱体、清除多余前驱体的步骤，直到形成期望厚度的含有中子敏感核素的镀膜。
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公开(公告)号：CN102109476A
公开(公告)日：2011-06-29
申请号：CN200910244359.2
申请日：2009-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/22
Abstract: 本发明公开了基于光核反应检测材料缺陷的方法及系统。该方法包括步骤：用高能X射线扫描被检测材料，高能X射线能与被检测材料中的目标核素发生光核反应以在该被检测材料内部产生正电子；使用探测器测量由于所述正电子发生湮没而产生的γ光子能量以获得γ光子能谱展宽；以及分析所述γ光子能谱展宽以判断被检测材料的缺陷情况。该方法利用高能X射线与被检测材料内部的核素发生光核反应，在被检测材料的内部产生正电子源，从而解决了外部正电子源无法对材料内部进行检测的问题。
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公开(公告)号：CN102109473A
公开(公告)日：2011-06-29
申请号：CN200910244358.8
申请日：2009-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: G01N23/05
Abstract: 本发明公开了一种利用光中子透射对物体成像的方法，包括步骤：使用中子准直器准直穿过物体的光中子射线以根据该中子准直线的位置确定光中子射线的位置信息；使用探测器模块探测被准直的光中子射线束，其中，探测器模块包括中子慢化体和位于该中子慢化体内部的至少一个热中子探测器，中子慢化体将光中子转化为热中子，热中子探测器测量该热中子以获得光中子射线束穿过物体时的衰减信息；综合所述位置信息和衰减信息以形成所述物体相应部分的图像。该方法利用中子准直器的位置决定光中子射线的位置信息，克服了由于光中子的慢化致使位置信息丧失从而导致无法成像的问题。该方法还通过设置探测器模块阵列来对物体进行成像。
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公开(公告)号：CN107966460B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN201711429492.6
申请日：2017-12-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种辐射检查系统和辐射检查方法。辐射检查系统包括辐射源和射束调制装置，射束调制装置包括设置于辐射源的射束出射侧的第一准直结构和设置于第一准直结构的射束出射侧的第二准直结构，第二准直结构与第一准直结构相对可动地设置以改变第一准直结构的第一准直口和第二准直结构的第二准直口的相对位置，使射束调制装置在第一工作状态和第二工作状态之间切换，其中，在第一工作状态，射束调制装置将初始射束调制为扇形束，在第二工作状态，射束调制装置将初始射束调制为位置可变的笔形束。本发明的辐射检查系统和辐射检查方法可以兼顾检查效率和检查精度。
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