本发明公开了一种数字集成电路的功能测试仪，在时序控制模块的控制下，功能测试的读测试矢量、格式化编码、测试结果的采集与比较以及写结果矢量四个阶段实现了并行工作。由于在读取测试矢量环节只需要关心测试矢量存储器的读取时间，在格式化编码环节只需要关心测试矢量的建立和保持时间，在测试结果的采集和比较环节只需要关心输出延迟时间和建立时间的差，保证能采回输出，在写结果存储器环节只需要关心写结果存储器的时间。这样，相比于传统方法的最小测试周期需要大于四个环节分别要求的时间之和，本发明可实现的最小测试周期只要大于四个时间中最大的即可，于是在测试同一种数字集成电路的情况下，本发明相对于传统的方法可以很大程度上提高测试速度。