Invention Publication
- Patent Title: 同时制备垂直导通孔和第一层再布线层的方法
- Patent Title (English): Method for simultaneously preparing vertical via hole and first rewiring layer
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Application No.: CN201110233186.1Application Date: 2011-08-15
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Publication No.: CN102386129APublication Date: 2012-03-21
- Inventor: 宋崇申
- Applicant: 中国科学院微电子研究所
- Applicant Address: 北京市朝阳区北土城西路3号中科院微电子所
- Assignee: 中国科学院微电子研究所
- Current Assignee: 中国科学院微电子研究所
- Current Assignee Address: 北京市朝阳区北土城西路3号中科院微电子所
- Agency: 北京市德权律师事务所
- Agent 王建国
- Main IPC: H01L21/768
- IPC: H01L21/768

Abstract:
本发明公开了一种同时制备垂直导通孔和第一层再布线层的方法,包括:在半导体衬底表面制作介质层;对所述介质层进行图形化刻蚀;对所述图形化刻蚀掉所述介质层而没有所述介质层覆盖区域的半导体衬底进行图形化刻蚀,以在所述半导体衬底上的形成孔或槽结构;在所述半导体衬底表面沉积绝缘层;实施导电材料填充工艺,使导电材料填充所述半导体衬底上的孔或槽结构;对所述半导体衬底进行平坦化处理,同时获得垂直导通孔和第一层再布线层。使用本发明提供的方法能够缩减工艺步骤、降低工艺成本,并提供工艺优化的更多自由度,保证最终产品的性能。
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