本发明揭示了一种削减板级物理测试点的测试方法，包括如下步骤：提供待测电路板，所述待测电路板上安装有若干电子元器件及对应的若干物理测试点；对待测电路板上的物理测试点进行筛选，以挑出若干可以被消减的物理测试点；运用在线测试机对未被消减的物理测试点进行测试，另外，辅助利用边界扫描测试对可以被消减的物理测试点进行测试。通过对待测电路板上部分物理测试点进行优化和消减，把这部分消减的物理测试点所能测到的电路通过成本较低的边界扫描测试来完成，从而降低整个测试成本和时间。