发明授权
- 专利标题: 一种用于电学层析成像系统的递推解调方法
- 专利标题(英): Recursion demodulation method for electrical tomography system
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申请号: CN201210016831.9申请日: 2012-01-18
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公开(公告)号: CN102565541B公开(公告)日: 2014-01-15
- 发明人: 徐立军 , 周海力 , 曹章 , 曾轶
- 申请人: 北京航空航天大学
- 申请人地址: 北京市海淀区学院路37号
- 专利权人: 北京航空航天大学
- 当前专利权人: 北京航空航天大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区学院路37号
- 主分类号: G01R27/26
- IPC分类号: G01R27/26 ; G01R27/04
摘要:
本发明涉及一种用于电学层析成像系统的递推解调方法,其特征在于:其包括下列步骤:(1)根据系统的激励频率f和采样频率fs建立初始方程和递推方程;(2)以激励信号零相位时刻为起始时刻,根据测量信号在紧邻起始时刻之后的2个采样点数据按照步骤(1)中的初始方程计算出数据矩阵B和状态矩阵P的初始值;(3)将其初始值及新增采样点数据代入步骤(1)中的递推方程,以更新B和P;(4)判断解调结果是否满足系统精度要求,若不满足则返回步骤(3),若满足则结束解调,并输出测量信号的幅值和相位数据。上述递推解调方法最少只需两个采样点数据,且增加采样点数可提高解调精度和抗噪声能力。
公开/授权文献
- CN102565541A 一种用于电学层析成像系统的递推解调方法 公开/授权日:2012-07-11