Invention Grant
CN102590250B 一种测量金属钚氧化百分比的方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 一种测量金属钚氧化百分比的方法
- Patent Title (English): Method for measuring oxidation percentage of metal plutonium
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Application No.: CN201210015567.7Application Date: 2012-01-18
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Publication No.: CN102590250BPublication Date: 2013-06-26
- Inventor: 程金星 , 王庆波 , 刘军辉 , 王新赤 , 朱文凯 , 高缨 , 温伟伟 , 熊建平 , 郑承银 , 耿葵
- Applicant: 中国人民解放军第二炮兵装备研究院第六研究所
- Applicant Address: 北京市海淀区清河大楼甲8号
- Assignee: 中国人民解放军第二炮兵装备研究院第六研究所
- Current Assignee: 中国人民解放军第二炮兵装备研究院第六研究所
- Current Assignee Address: 北京市海淀区清河大楼甲8号
- Agency: 北京尚德技研知识产权代理事务所
- Agent 严勇刚
- Main IPC: G01N23/22
- IPC: G01N23/22
Abstract:
一种测量金属钚氧化程度的方法,先测定被氧化的金属钚样品自然放射条件下17O(α,α′γ)17O(871keV)和14N(α,p)17O(871keV)反应的所发生的871keV特征γ射线峰位计数数值,然后利用17O(n,n′γ)17O(871keV)反应,通过加外中子源照射,增强被测试金属钚样品中17O(n,n′γ)17O(871keV)反应的能力,测得在加外中子源照射条件下被氧化的金属钚样品的871keV特征γ射线峰位计数数值,将在加外中子源照射条件下所测得的871keV特征γ射线峰位计数数值减去自然放射条件下所测得的871keV特征γ射线峰位计数数值,即可得到被氧化的金属钚样品中17O所贡献的871keV特征γ射线峰位计数数值,本发明所提供的一种测量金属钚氧化程度的方法,能够有效避免14N(α,p)17O(871keV)反应所产生的871keV特征γ射线的干扰,也就能够对待测氧化程度的金属钚样品进行定量分析。
Public/Granted literature
- CN102590250A 一种测量金属钚氧化百分比的方法 Public/Granted day:2012-07-18
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