• 专利标题: 尺寸测量设备、尺寸测量方法和用于尺寸测量设备的程序
  • 专利标题(英): Dimension measuring apparatus, dimension measuring method, and program for dimension measuring apparatus
  • 申请号: CN201210022439.5
    申请日: 2012-02-01
  • 公开(公告)号: CN102628670A
    公开(公告)日: 2012-08-08
  • 发明人: 川泰孝
  • 申请人: 株式会社其恩斯
  • 申请人地址: 日本大阪府
  • 专利权人: 株式会社其恩斯
  • 当前专利权人: 株式会社其恩斯
  • 当前专利权人地址: 日本大阪府
  • 代理机构: 北京天昊联合知识产权代理有限公司
  • 代理商 陈源; 张天舒
  • 优先权: 2011-019767 2011.02.01 JP
  • 主分类号: G01B11/00
  • IPC分类号: G01B11/00
尺寸测量设备、尺寸测量方法和用于尺寸测量设备的程序
摘要:
本发明提供了尺寸测量设备、尺寸测量方法和用于尺寸测量设备的程序。尺寸测量设备由如下构成:可移动台;测量设置数据存储部,其保存特征量信息和测量位置信息;低放大率成像部,其以低放大率拍摄工件;工件检测部,其基于特征量信息指定工件在低放大率图像中的位置和姿态;台控制部,其基于所指定的位置和姿态控制可移动台,以使得工件的待测位置保持在高放大率视场内;高放大率成像部,其以高放大率拍摄待测位置;边缘提取部,其从高放大率图像中提取待测位置的边缘;以及尺寸值计算部,其基于所提取的边缘获得待测位置的尺寸值。
公开/授权文献
0/0