发明授权
CN102651359B 具有低阻值基材与低功率损耗的半导体结构
失效 - 权利终止
- 专利标题: 具有低阻值基材与低功率损耗的半导体结构
- 专利标题(英): Semiconductor structure with low resistance substrate and low power loss
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申请号: CN201110051017.6申请日: 2011-02-25
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公开(公告)号: CN102651359B公开(公告)日: 2015-01-14
- 发明人: 许修文 , 谢智正
- 申请人: 尼克森微电子股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新北市
- 专利权人: 尼克森微电子股份有限公司
- 当前专利权人: 尼克森微电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新北市
- 代理机构: 隆天国际知识产权代理有限公司
- 代理商 郑小军; 冯志云
- 主分类号: H01L23/488
- IPC分类号: H01L23/488 ; H01L29/41 ; H01L23/36 ; H01L21/768 ; H01L21/60 ; H01L21/28
摘要:
本发明提供一种具有低阻值基材与低功率损耗的半导体结构,其包括一半导体单元,一第一导电结构,一第一导电物质与一第二导电结构。其中,半导体单元具有一基材,此基材位于半导体单元的一侧并且具有至少一个孔洞。第一导电物质,位于上述的孔洞内,并以填满或不填满的方式存在于孔洞内。第一导电结构,位于半导体单元的该侧的一表面。第二导电结构,位于半导体单元的不同于半导体基材的另一侧表面。本发明能有效降低基材的电阻,进而降低半导体结构导通时的功率损耗,此外,拥有更久的使用寿命。再者,本发明在不增加额外设备的情形下,可延续使用目前封装厂产能的优势,进一步降低功率损耗与潜藏的裂片风险。
公开/授权文献
- CN102651359A 具有低阻值基材与低功率损耗的半导体结构 公开/授权日:2012-08-29
IPC分类: