发明授权
- 专利标题: 超光滑表面缺陷检测系统的畸变校正方法
- 专利标题(英): Super-smooth surface defect detection system and distortion correction method thereof
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申请号: CN201210122901.9申请日: 2012-04-24
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公开(公告)号: CN102661956B公开(公告)日: 2013-06-12
- 发明人: 杨甬英 , 王世通 , 曹频 , 陈晓钰 , 卓永模
- 申请人: 浙江大学
- 申请人地址: 浙江省杭州市西湖区浙大路38号
- 专利权人: 浙江大学
- 当前专利权人: 浙江大学
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市西湖区浙大路38号
- 代理机构: 杭州求是专利事务所有限公司
- 代理商 张法高
- 主分类号: G01N21/95
- IPC分类号: G01N21/95
摘要:
本发明提出了一种超光滑表面缺陷检测系统的畸变校正方法。本发明解决了超光滑表面缺陷检测系统中因为存在光学畸变而造成的子图像拼接时的缺陷断裂问题。本发明的技术特点在于,设计了一种超光滑表面缺陷检测系统和畸变校正标准板及标准板的夹持装置,利用检测系统对标准板采集得到暗场畸变图像,通过该畸变图像和计算机按照物面尺寸和像面像素关系重构的标准板理想图像的匹配建立畸变退化模型,并提出一种基于二次极坐标正反变换和二次灰度线性插值的畸变校正方法。本方法能够校正超光滑表面缺陷检测系统中因畸变造成的相邻子图像的拼接错位,同时也适用于校正其他基于图像拼接的大视场光学系统中存在的畸变。
公开/授权文献
- CN102661956A 超光滑表面缺陷检测系统及其畸变校正方法 公开/授权日:2012-09-12