具有通带波长滤波的波导光学前置放大检测器
摘要:
本发明描述在由III-V半导体所组成并且在一个外延生长流程中生长的多导向垂直集成(MGVI)结构中可实现的集成光子布置,从而允许形成MGVI结构的多个垂直集成波长指定波导的共同波长指定波导中的半导体光学放大器(SOA)和PIN光电检测器(PIN)结构的集成。集成包括在SOA与PIN之间集成的波长滤波器,以便降低发生于由SOA所产生的ASE的PIN中的噪声。在本发明的示范实施例中,波长滤波器集成到共同波长指定波导中或者波长指定波导中的MGVI结构中。此外,在其它实施例中,波长滤波器由对接集成光子布置的端面的薄膜滤波器来提供,其中光信号由光学波导和/或诸如多模干扰装置之类的附加光学元件来耦合。
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