- 专利标题: 用于调节辐射束的光学设备、光刻设备和器件制造方法
-
申请号: CN201210107106.2申请日: 2012-04-12
-
公开(公告)号: CN102736444B公开(公告)日: 2016-08-03
- 发明人: G·C·德弗里斯 , 简·伯纳德·普莱彻尔墨斯·范斯库特 , F·J·J·杰森 , N·A·J·M·范阿尔勒
- 申请人: ASML荷兰有限公司
- 申请人地址: 荷兰维德霍温
- 专利权人: ASML荷兰有限公司
- 当前专利权人: ASML荷兰有限公司
- 当前专利权人地址: 荷兰维德霍温
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 吴敬莲
- 优先权: 61/475,829 2011.04.15 US; 61/522,959 2011.08.12 US
- 主分类号: G03F7/20
- IPC分类号: G03F7/20
摘要:
本发明公开了一种用于调节辐射束的光学设备、光刻设备和器件制造方法。在一种极紫外光刻设备中,照射系统包括琢面场反射镜和琢面光瞳反射镜。反射镜内部的场琢面反射镜将极紫外辐射聚焦到特定的相关光瞳琢面反射镜,由此将其引导至目标区域。每个场琢面反射镜被修改为散射不期望的深紫外辐射进入一方向范围内。深紫外辐射的大部分落到光瞳反射镜内的相邻光瞳琢面反射镜上,使得到达目标的深紫外辐射的量与期望的极紫外辐射相比被抑制。因为反射镜之间的距离远大于单个光瞳琢面反射镜的宽度,所以可以仅使用窄散射角来实现对深紫外辐射的良好的抑制。可以将散射层内的极紫外辐射的吸收最小化。
公开/授权文献
- CN102736444A 用于调节辐射束的光学设备、光刻设备和器件制造方法 公开/授权日:2012-10-17
IPC分类: