• 专利标题: 在带电粒子仪器中保护辐射检测器的方法
  • 专利标题(英): Method of protecting radiation detector in charged particle instrument
  • 申请号: CN201210099031.8
    申请日: 2012-04-06
  • 公开(公告)号: CN102737937A
    公开(公告)日: 2012-10-17
  • 发明人: M.T.奥滕G.C.范霍夫滕J.洛夫
  • 申请人: FEI公司
  • 申请人地址: 美国俄勒冈州
  • 专利权人: FEI公司
  • 当前专利权人: FEI公司
  • 当前专利权人地址: 美国俄勒冈州
  • 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
  • 代理商 刘春元; 李家麟
  • 优先权: 11161427.7 20110407 EP
  • 主分类号: H01J37/26
  • IPC分类号: H01J37/26 H01J37/244
在带电粒子仪器中保护辐射检测器的方法
摘要:
本发明涉及在带电粒子射束设备中保护辐射检测器的方法。本发明涉及一种在TEM中保护直接电子检测器(151)的方法。本发明包括在设置新的射束参数诸如改变聚光透镜(104)、投影器透镜(106)和/或射束能量的激发之前预测检测器上的电流密度。该预测是使用光学模型或者查表实现的。当预测的检测器暴露小于预定数值时,实现所期改变,否则产生警告消息并且推迟设置的改变。
公开/授权文献
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