发明公开
- 专利标题: 在带电粒子仪器中保护辐射检测器的方法
- 专利标题(英): Method of protecting radiation detector in charged particle instrument
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申请号: CN201210099031.8申请日: 2012-04-06
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公开(公告)号: CN102737937A公开(公告)日: 2012-10-17
- 发明人: M.T.奥滕 , G.C.范霍夫滕 , J.洛夫
- 申请人: FEI公司
- 申请人地址: 美国俄勒冈州
- 专利权人: FEI公司
- 当前专利权人: FEI公司
- 当前专利权人地址: 美国俄勒冈州
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 刘春元; 李家麟
- 优先权: 11161427.7 20110407 EP
- 主分类号: H01J37/26
- IPC分类号: H01J37/26 ; H01J37/244
摘要:
本发明涉及在带电粒子射束设备中保护辐射检测器的方法。本发明涉及一种在TEM中保护直接电子检测器(151)的方法。本发明包括在设置新的射束参数诸如改变聚光透镜(104)、投影器透镜(106)和/或射束能量的激发之前预测检测器上的电流密度。该预测是使用光学模型或者查表实现的。当预测的检测器暴露小于预定数值时,实现所期改变,否则产生警告消息并且推迟设置的改变。
公开/授权文献
- CN102737937B 在带电粒子仪器中保护辐射检测器的方法 公开/授权日:2016-03-16