发明授权
- 专利标题: 一种阵列基板检测设备
- 专利标题(英): Array substrate detection apparatus
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申请号: CN201210328378.5申请日: 2012-09-06
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公开(公告)号: CN102854200B公开(公告)日: 2015-03-04
- 发明人: 赵海生 , 林子锦 , 裴晓光 , 田超 , 张铁林 , 林金升 , 韩金永
- 申请人: 北京京东方光电科技有限公司
- 申请人地址: 北京市大兴区经济技术开发区西环中路8号
- 专利权人: 北京京东方光电科技有限公司
- 当前专利权人: 北京京东方光电科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市大兴区经济技术开发区西环中路8号
- 代理机构: 北京同达信恒知识产权代理有限公司
- 代理商 黄志华
- 主分类号: G01N21/94
- IPC分类号: G01N21/94
摘要:
本发明公开了一种阵列基板检测设备,用以通过采集到的被测物的图像确定被测物的高度。本发明提供的阵列基板检测设备包括:检测设备本体、设置于所述检测设备本体上的图像采集装置、高度计算装置以及报警装置,所述图像采集装置采集被测物在不同于垂直方向上的至少两个角度上的图像的数据信息,并将所述数据信息传送给所述高度计算装置;所述高度计算装置根据接收到的数据信息,计算出所述被测物的高度;所述报警装置与所述高度计算装置进行通讯,用于在被测物的高度超过预设值时实施报警。
公开/授权文献
- CN102854200A 一种阵列基板检测设备 公开/授权日:2013-01-02