本发明专利涉及发光材料非线性光学性质的测量方法。按照国际专利分类表（IPC）划分属于物理部，仪器分部，测量；测试类，借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料组中的便于进行光学测试的装置或仪器领域（G01N21/01）。本发明主要针对现有Z扫描技术无法测量发光材料非线性光学性质的不足，通过在测试装置中引入光学滤波技术来消除发光材料的荧光发射对Z扫描测试产生的影响。提出一种改进的可以针对发光材料同时进行非线性光学吸收效应及非线性折射效应测试的方法。