发明授权
- 专利标题: 一种电阻法检测碳化硅微粉粒度的方法
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申请号: CN201210512946.7申请日: 2012-12-05
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公开(公告)号: CN103018142B公开(公告)日: 2016-03-16
- 发明人: 曲丽伟 , 梁贵振 , 夏军 , 杨正宏 , 叶小迷 , 张向峰 , 苏燕 , 张强
- 申请人: 平顶山易成新材料有限公司
- 申请人地址: 河南省平顶山市高新技术开发区建设路东段631号
- 专利权人: 平顶山易成新材料有限公司
- 当前专利权人: 平顶山易成新材料有限公司
- 当前专利权人地址: 河南省平顶山市高新技术开发区建设路东段631号
- 代理机构: 洛阳公信知识产权事务所
- 代理商 李宗虎
- 主分类号: G01N15/02
- IPC分类号: G01N15/02 ; G01N1/28
摘要:
一种电阻法检测碳化硅微粉粒度的方法,步骤如下:将待检测样品放置在容器内,加入纯水,然后搅拌,备用,然后将容器放置在超声细胞粉碎放置隔音箱内分散处理,第一次处理完成后取出静置1-2min后,再次向容器内加入纯水,加入纯水的质量是容器内碳化硅微粉浆料质量的0.1-0.2倍,摇晃均匀后备用,再次进行超声分散处理,处理完成,碳化硅溶液分散完毕,备用;采用COULTER颗粒计数仪进行碳化硅微粉粒度的检测;该方法在碳化硅微粉粒径检测中首次采用多次的超声细胞粉碎震荡处理,并且调整最佳震荡功率和处理时间,以间歇性方式对碳化硅微粉的团聚颗粒进行分散处理,该方法最大化降低假性的“大颗粒”的存在,提高检测精度和检测效率。
公开/授权文献
- CN103018142A 一种电阻法检测碳化硅微粉粒度的方法 公开/授权日:2013-04-03