发明授权
- 专利标题: 半导体装置及其制造方法
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申请号: CN201210383347.X申请日: 2012-10-11
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公开(公告)号: CN103050460B公开(公告)日: 2015-09-30
- 发明人: 日坂隆行 , 中本隆博 , 志贺俊彦 , 西泽弘一郎
- 申请人: 三菱电机株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 三菱电机株式会社
- 当前专利权人: 三菱电机株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京天昊联合知识产权代理有限公司
- 代理商 何立波; 张天舒
- 优先权: 2011-224521 2011.10.12 JP
- 主分类号: H01L23/485
- IPC分类号: H01L23/485 ; H01L21/60
摘要:
本发明提供能提高针对来自外部的杂质等的耐性的半导体装置及其制造方法。在GaAs衬底(1)上设置有下层布线(2)。在GaAs衬底(1)及下层布线(2)上设置有树脂膜(4)。树脂膜(4)在下层布线(2)上具有开口(5)。在下层布线(2)及树脂膜(4)上设置有SiN膜(6)。SiN膜(6)在开口(5)内具有开口(7)。在下层布线(2)及树脂膜(4)的一部分上设置有上层布线(8)。上层布线(8)具有经由开口(5)、(7)与下层布线(2)连接的Ti膜(8a)和设置在Ti膜(8a)上的Au膜(8b)。在上层布线(8)及树脂膜(4)上设置有SiN膜(9)。SiN膜(9)在树脂膜(4)上附着于SiN膜(6)。SiN膜(6)、(9)保护Ti膜(8a)的周围。
公开/授权文献
- CN103050460A 半导体装置及其制造方法 公开/授权日:2013-04-17
IPC分类: