发明授权
- 专利标题: 具有纳米管层的半导体器件及其形成方法
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申请号: CN201310029975.2申请日: 2013-01-25
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公开(公告)号: CN103227165B公开(公告)日: 2017-10-24
- 发明人: 道格拉斯·M·雷伯
- 申请人: 飞思卡尔半导体公司
- 申请人地址: 美国得克萨斯
- 专利权人: 飞思卡尔半导体公司
- 当前专利权人: 恩智浦美国有限公司
- 当前专利权人地址: 美国得克萨斯
- 代理机构: 中原信达知识产权代理有限责任公司
- 代理商 刘光明; 穆德骏
- 优先权: 13/358,137 2012.01.25 US
- 主分类号: H01L23/538
- IPC分类号: H01L23/538 ; H01L21/768
摘要:
公开一种具有纳米管层的半导体器件及其形成方法。一种形成半导体器件(10)的方法包括在衬底上形成第一导电层(14、16)。在第一导电层上形成具有第一开口(20)的介电层(18)。在第一介电层上以及第一开口内沉积种层(22)。由来自第一介电层以及第一开口上的种层的导电纳米管(26)形成一层。在导电纳米管层上形成第二介电层(30)。在第一开口上的第二介电层内形成开口(32)。在第二开口内沉积导电材料(34、36)。
公开/授权文献
- CN103227165A 具有纳米管层的半导体器件及其形成方法 公开/授权日:2013-07-31
IPC分类: