- 专利标题: 磁头噪声测试过程中的频谱模拟方法及磁头噪声测试方法
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申请号: CN201210027288.2申请日: 2012-02-08
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公开(公告)号: CN103247300B公开(公告)日: 2017-07-07
- 发明人: 林浩基 , 雷卓文 , 梁钊明 , 张启超 , 陈华俊 , 丁菊仁 , 倪荣光
- 申请人: 新科实业有限公司
- 申请人地址: 中国香港新界沙田香港科学园科技大道东六号新科中心
- 专利权人: 新科实业有限公司
- 当前专利权人: 新科实业有限公司
- 当前专利权人地址: 中国香港新界沙田香港科学园科技大道东六号新科中心
- 代理机构: 广州三环专利商标代理有限公司
- 代理商 郝传鑫
- 主分类号: G11B5/455
- IPC分类号: G11B5/455
摘要:
本发明公开了一种用于磁头噪声测试的频谱模拟方法,包括以下步骤:(11),采用一动态测试机在第一频率带宽范围内对若干磁头进行检测,从而获得多个第一噪声观测图;(22),在一预定频率带宽上将每一所述噪声观测图划分成至少两段噪声曲线,其包括第一噪声曲线和第二噪声曲线,其中每一所述第一噪声曲线的频率带宽低于每一所述第二噪声曲线的频率带宽;(33),将每一所述第二噪声曲线拟合成数学方程;以及(44),在多个所述数学方程之间建立一相关方程,从而模拟出每一磁头的所述第二噪声曲线。本发明能模拟噪声观测图的在较高频率带宽范围下的第二噪声曲线,并根据该第二噪声曲线建立相关方程,从而节省测试时间,提高测试效率并提高测试精度。
公开/授权文献
- CN103247300A 磁头噪声测试过程中的频谱模拟方法及磁头噪声测试方法 公开/授权日:2013-08-14
IPC分类: