发明授权
- 专利标题: 一种TSV正面端部互连工艺
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申请号: CN201310233922.2申请日: 2013-06-13
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公开(公告)号: CN103280427B公开(公告)日: 2016-08-10
- 发明人: 戴风伟 , 于大全
- 申请人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
- 申请人地址: 江苏省无锡市菱湖大道200号中国传感网国际创新园D1栋
- 专利权人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
- 当前专利权人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省无锡市菱湖大道200号中国传感网国际创新园D1栋
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 常亮
- 主分类号: H01L21/768
- IPC分类号: H01L21/768
摘要:
本发明公开了一种TSV正面端部互连工艺,包括:采用刻蚀工艺在基底上制备若干TSV孔;在TSV孔内壁及基底表面制备绝缘层;在TSV孔中及绝缘层表面电镀形成TSV导电柱;CMP工艺,去除包括TSV导电柱在内的一定厚度的硅基底;对TSV导电柱进行退火,使TSV导电柱凸出于基底之上一定高度;在基底及TSV导电柱表面制备钝化层;去除部分钝化层,使TSV导电柱顶部暴露出钝化层;制备TSV导电柱的金属互连结构。本发明通过减小或去除了TSV端部拐角处的应力集中区,降低由于应力而产生绝缘层与基底之间分层或裂纹的可能性;同时利用电镀TSV导电柱并进行退火处理后,TSV导电柱会凸出这一现有工艺的缺陷,实现TSV导电柱与再分布层金属的互连。
公开/授权文献
- CN103280427A 一种TSV正面端部互连工艺 公开/授权日:2013-09-04
IPC分类: