Invention Publication
- Patent Title: 基于蒙特卡洛模拟的接触器吸合时间合格率预测方法
- Patent Title (English): Contactor attraction time qualification rate predicting method based on Monte Carlo simulation
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Application No.: CN201310177920.6Application Date: 2013-05-14
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Publication No.: CN103294853APublication Date: 2013-09-11
- Inventor: 杨文英 , 周学 , 周志凯 , 彭飞 , 冯小林 , 翟国富
- Applicant: 哈尔滨工业大学
- Applicant Address: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- Assignee: 哈尔滨工业大学
- Current Assignee: 哈尔滨工业大学,贵州振华群英电器有限公司
- Current Assignee Address: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- Agency: 哈尔滨市松花江专利商标事务所
- Agent 张宏威
- Main IPC: G06F17/50
- IPC: G06F17/50

Abstract:
基于蒙特卡洛模拟的接触器吸合时间合格率预测方法,属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对吸合时间参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对吸合时间有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合;然后根据该N组参数组合获得N组吸合时间特性参数;进而获得吸合时间参数的分布特性;最后根据该分布特性和接触器的吸合时间设计参数利用Simpson法则获得接触器吸合时间合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器吸合时间的合格率进行预测分析,进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。
Public/Granted literature
- CN103294853B 基于蒙特卡洛模拟的接触器吸合时间合格率预测方法 Public/Granted day:2016-02-17
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