发明公开

用于测量电容的方法
摘要:
本发明公开了一种用于测量电容的方法。根据该方法,在一个第一测量阶段过程中,通过一种第一测量方法检测有待测量的电容的一个第一检测测量值(UM)。在这种情况下,当该第一检测测量值(UM)满足一种转换标准时开始一个第二测量阶段。在该第二测量阶段过程中,通过一种与该第一测量方法不同的第二测量方法检测有待测量的电容的一个第二检测测量值。该第二测量方法具有比该第一测量方法更高的测量精度,但也具有更大的能量消耗。
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