Invention Publication
CN103364177A 配光特性测量装置和配光特性测量方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 配光特性测量装置和配光特性测量方法
- Patent Title (English): A light distribution characteristic measurement apparatus and a light distribution characteristic measurement method
-
Application No.: CN201310058976.XApplication Date: 2013-02-25
-
Publication No.: CN103364177APublication Date: 2013-10-23
- Inventor: 江南世志
- Applicant: 大塚电子株式会社
- Applicant Address: 日本大阪府
- Assignee: 大塚电子株式会社
- Current Assignee: 大塚电子株式会社
- Current Assignee Address: 日本大阪府
- Agency: 北京林达刘知识产权代理事务所
- Agent 刘新宇
- Priority: 2012-085508 2012.04.04 JP
- Main IPC: G01M11/02
- IPC: G01M11/02

Abstract:
本发明提供一种用于测量光源的配光特性的配光特性测量装置和配光特性测量方法。配光特性测量装置包括以具有规定的相对关系的方式配置的多个检测器。一个检测器的检测范围的至少一部分与邻接的其它检测器的检测范围重复。配光特性测量装置还包括:驱动单元,其将多个检测器作为一体来进行驱动,由此更新多个检测器相对于光源的位置关系;以及计算单元,其根据由多个检测器在相同的时刻获取到的各个检测结果,进行与多个检测器的相对关系和检测范围的重复中的至少一方相应的处理,计算光源的配光特性。
Public/Granted literature
- CN103364177B 配光特性测量装置和配光特性测量方法 Public/Granted day:2017-03-01
Information query